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發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 14
2設(shè)備構(gòu)成及詳細(xì)技術(shù)說明2.1工藝說明 2.2.臺(tái)面結(jié)構(gòu)圖如下      3.設(shè)備說明3.1 排風(fēng)系統(tǒng)?●排風(fēng)裝置(排風(fēng)壓力、風(fēng)量根據(jù)實(shí)際情況或客戶要求設(shè)計(jì))將設(shè)備內(nèi)揮發(fā)的有毒氣體抽到車間排風(fēng)管道或戶外(室外排放遵守國家環(huán)保要求),避免擴(kuò)散到室內(nèi);?●排風(fēng)通道內(nèi)設(shè)有風(fēng)量導(dǎo)流板,從而使排風(fēng)效果達(dá)到最佳;?●本體頂部后方自帶強(qiáng)力抽風(fēng)1個(gè)風(fēng)道口裝置(每個(gè)藥劑槽對(duì)應(yīng)一個(gè)),排風(fēng)口直徑大于或等于 200mm 與本體焊成一體;?●排風(fēng)口處設(shè)有手動(dòng)調(diào)節(jié)風(fēng)門,操作人員可根據(jù)情況及時(shí)調(diào)節(jié)排風(fēng)量;3.2設(shè)備防護(hù)門:?●本體前方安裝有防護(hù)隔離門,隔離門采用透明PVC板制成,前門可以輕松開合,在清洗過程中,隔離門關(guān)閉,以盡量改善工作環(huán)境并減小對(duì)人體的傷害. ?●形式:上下推拉門。3.3 給排水/廢液系統(tǒng)?●給水管路為一路去離子水;?●給排水排廢接頭均為活性連接;?●排放方式均采用氣動(dòng)控制的方式來保證安全3.4 電氣控制系統(tǒng)?●采用優(yōu)質(zhì)PLC可編程控制器控制全操作過程, ?●人機(jī)界面為觸摸屏,接口中有手動(dòng)操作、故障報(bào)警、安全保護(hù)等功能,各工作位過程完成提前提示報(bào)警,觸摸屏選用優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品;?●觸摸屏加鎖定,以防非授權(quán)人員修改或設(shè)定參數(shù);?●所有電控部分需獨(dú)立封閉,帶抽風(fēng)系統(tǒng),獨(dú)立的配電柜?●設(shè)備照明:設(shè)備其它部位--低電壓燈,根據(jù)工作需要可控照明;?●設(shè)備整體采取人性化設(shè)計(jì),方便操作;并裝有漏電保護(hù)和聲光報(bào)警提示裝置,保證性能安全可靠;電控部分導(dǎo)線采用耐高溫、耐腐蝕的專用導(dǎo)線,電氣控制部分內(nèi)部還通有壓縮空氣保護(hù),可防水耐腐蝕;?●設(shè)備所有處于腐蝕腔中的線纜均通過PE管進(jìn)行保護(hù),免受腐蝕;?●設(shè)備具有良好的接地裝置;
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 14
設(shè)備概況:(僅做參考)主要功能:本設(shè)備主要手動(dòng)搬運(yùn)方式,通過對(duì)硅片腐蝕、漂洗、等方式進(jìn)行處理,從而達(dá)到一個(gè)用戶要求的效果。設(shè)備名稱:KOH  Etch刻蝕清洗機(jī)           設(shè)備型號(hào):CSE-SC-NZD254整機(jī)尺寸(參考):自動(dòng)設(shè)備約2500mm(L)×1800mm(W)×2400mm(H);被清洗硅片尺寸: 2--6寸(25片/籃)設(shè)備形式:室內(nèi)放置型;操作形式:手動(dòng)各槽位主要技術(shù)工藝:設(shè)備組成:該設(shè)備主要由清洗部分、抽風(fēng)系統(tǒng)及電控部分組成設(shè)備走向:方案圖按 “左進(jìn)右出”方式,另可按要求設(shè)計(jì)“右進(jìn)左出”方式;設(shè)備描述:此裝置是一個(gè)全自動(dòng)的處理設(shè)備。8.0英寸大型觸摸屏(PROFACE/OMRON)顯示 / 檢測(cè) / 操作每個(gè)槽前上方對(duì)應(yīng)操作按鈕,與觸摸屏互相配合主體材料:德國進(jìn)口10mmPP板,優(yōu)質(zhì)不銹鋼骨架,外包3mmPP板防腐;臺(tái)面板為德國10mm PP板;DIW管路及構(gòu)件采用日本進(jìn)口clean-PVC管材,需滿足18M去離子水水質(zhì)要求,酸堿管路材質(zhì)為進(jìn)口PFA/PVDF;采用國際標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)加工,焊接組裝均在萬級(jí)凈化間內(nèi)完成;排風(fēng):位于機(jī)臺(tái)后上部工作照明:上方防酸照明三菱、歐姆龍 PLC控制。安全考慮:設(shè)有EMO(急停裝置), 強(qiáng)電弱點(diǎn)隔離所有電磁閥均高于工作槽體工作液面電控箱正壓裝置(CDA Purge)設(shè)備三層防漏  樓盤傾斜   漏液報(bào)警  設(shè)備整體置于防漏托盤內(nèi)排放管路加過濾裝置所有槽體折彎成型,可有效避免死角顆粒;更多化學(xué)品相關(guān)濕法腐蝕相關(guān)設(shè)備(KOH腐蝕刻蝕機(jī)、RCA清洗機(jī)、去膠機(jī)、外延片清洗機(jī)、酸堿腐蝕機(jī)、顯影機(jī)等)以及干燥設(shè)備(馬蘭戈尼干燥機(jī)Marangoni、單腔...
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這主要從兩個(gè)方面來考慮:一個(gè)是材料和工藝問題;另一個(gè)是電氣性能問題。       P型半導(dǎo)體是在單晶硅(或鍺)中參入微量的三價(jià)元素,如:硼、銦、鎵或鋁等;N型半導(dǎo)體是在單晶硅(或鍺)中參入微量的五價(jià)元素,如:磷、銻、砷等。P型半導(dǎo)體與N型半導(dǎo)體,在材料成本方面應(yīng)該差別不是很大,但要把它做成一個(gè)電子產(chǎn)品,在生產(chǎn)工藝方面會(huì)存在很大的差異。       例如,用本征鍺材料制作PNP晶體管相對(duì)于用本征鍺材料制作NPN晶體管容易很多,因?yàn)殂熍c鍺比較容易結(jié)合(擴(kuò)散);同樣,用本征硅材料制作NPN晶體管,相對(duì)于用本征硅材料制作PNP管要容易很多。       某種半導(dǎo)體生產(chǎn)工藝的誕生并不是一天就可以達(dá)到盡善盡美的,需要通過大量試驗(yàn)和經(jīng)驗(yàn)積累。早期生產(chǎn)的場(chǎng)效應(yīng)管大部分是結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管,這種結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管在結(jié)構(gòu)方面與PNP晶體管很相似,兩者的區(qū)別主要是基區(qū)引出電極的區(qū)別(基極與源極和漏極)。晶體管把中間的一層(N區(qū))當(dāng)成一個(gè)電極引出稱為基極,其余上下兩層(P-P區(qū))分別當(dāng)發(fā)射極和集電極引出;而場(chǎng)效應(yīng)管則是把基區(qū)當(dāng)成一個(gè)導(dǎo)電溝道(N溝道),并在其兩端分別引出一個(gè)電極,稱為源極和漏極,其余上下兩層(P-P區(qū))分別當(dāng)源極和柵極引出。...
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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RCA標(biāo)準(zhǔn)清洗法是1965年由Kern和Puotinen 等人在N.J.Princeton的RCA實(shí)驗(yàn)室首創(chuàng)的,并由此而得名。RCA是一種典型的、至今仍為最普遍使用的濕式化學(xué)清洗法,該清洗法主要包括以下幾種清洗液。        (1)SPM:H2SO4 /H2O2 120~150℃ SPM具有很高的氧化能力,可將金屬氧化后溶于清洗液中,并能把有機(jī)物氧化生成CO 2和H2O。用SPM清洗硅片可去除硅片表面的重有機(jī)沾污和部分金屬,但是當(dāng)有機(jī)物沾污特別嚴(yán)重時(shí)會(huì)使有機(jī)物碳化而難以去除。        (2)HF(DHF):HF(DHF) 20~25℃ DHF可以去除硅片表面的自然氧化膜,因此,附著在自然氧化膜上的金屬將被溶解到清洗液中,同時(shí)DHF抑制了氧化膜的形成。因此可以很容易地去除硅片表面的Al,F(xiàn)e,Zn,Ni等金屬,DHF也可以去除附著在自然氧化膜上的金屬氫氧化物。用DHF清洗時(shí),在自然氧化膜被腐蝕掉時(shí),硅片表面的硅幾乎不被腐蝕。        (3)APM (SC-1):NH4OH/H2O2 /H2O ...
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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簡(jiǎn)介半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是現(xiàn)代電子工業(yè)的核心,而半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)是硅材料工業(yè)。雖然有各種各樣新型的半導(dǎo)體材料不斷出現(xiàn),但 90%以上的半導(dǎo)體器件和電路,尤其是超大規(guī)模集成電路(ULSI)都是制作在高純優(yōu)質(zhì)的硅單晶拋光片和外延片上的。硅片清洗對(duì)半導(dǎo)體工業(yè)的重要性早在50年代初就已引起人們的高度重視,這是因?yàn)楣杵砻娴奈廴疚飼?huì)嚴(yán)重影響器件的性能、可靠性、和成品率。隨著微電子技術(shù)的飛速發(fā)展以及人們對(duì)原料要求的提高,污染物對(duì)器件的影響也愈加突出。20世紀(jì)70年代在單通道電子倍增器基礎(chǔ)上發(fā)展起來一種多通道電子倍增器。微通道板具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、增益高、時(shí)間響應(yīng)快和空間成像等特點(diǎn),因而得到廣泛應(yīng)。它主要應(yīng)用于各種類型的像增強(qiáng)器、夜視儀、量子位置探測(cè)器、射線放大器、場(chǎng)離子顯微鏡、超快速寬頻帶示波器、光電倍增器等。微通道板是一種多陣列的電子倍增器,是微光像增強(qiáng)器的核心部件。MCP的制作工藝周期長(zhǎng)且復(fù)雜,表觀疵病是制約MCP成品率的關(guān)鍵因素之一。在MCP的工藝制造過程中,不可避免遭到塵埃、金屬、有機(jī)物和無機(jī)物的污染。這些污染很容易造成其表面缺陷及孔內(nèi)污垢,產(chǎn)生發(fā)射點(diǎn)、黑點(diǎn)、暗斑等,導(dǎo)致MCP的良品率下降,使得管子質(zhì)量不穩(wěn)定以至失效,因此在MCP的制造過程中利用超聲波清洗技術(shù)去除污染物十分重要。 清洗方式普通的清洗方法一般不能達(dá)到孔內(nèi),而孔內(nèi)芯料的反應(yīng)生成物及其他污染物會(huì)在后序工藝中會(huì)產(chǎn)生重復(fù)污染...
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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所謂的半導(dǎo)體,是指在某些情況下,能夠?qū)娏鳎谀承l件下,又具有絕緣體效用的物質(zhì);而至于所謂的IC,則是指在一半導(dǎo)體基板上,利用氧化、蝕刻、擴(kuò)散等方法,將眾多電子電路組成各式二極管、晶體管等電子組件,作在一微小面積上,以完成某一特定邏輯功能(例如:AND、OR、NAND等),進(jìn)而達(dá)成預(yù)先設(shè)定好的電路功能。自1947年12月23日第一個(gè)晶體管在美國的貝爾實(shí)驗(yàn)室(Bell Lab)被發(fā)明出來,結(jié)束了真空管的時(shí)代,到1958年TI開發(fā)出全球第一顆IC成功,又意謂宣告晶體管的時(shí)代結(jié)束,IC的時(shí)代正式開始。從此開始各式IC不斷被開發(fā)出來,集積度也不斷提升。從小型集成電路(SSI),每顆IC包含10顆晶體管的時(shí)代;一路發(fā)展MSI、LSI、VLSI、ULSI;再到今天,短短50年時(shí)間,包含千萬個(gè)以上晶體管的集成電路已經(jīng)被大量生產(chǎn),并應(yīng)用到我們的生活的各領(lǐng)域中來,為我們的生活帶來飛速的發(fā)展。不能想象離開半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)我們的生活將會(huì)怎樣,半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r已成為一個(gè)國家的技術(shù)狀況的重要指針,電子技術(shù)也成為一個(gè)國家提高國防能力的重要途徑。 半導(dǎo)產(chǎn)品類別    目前的半導(dǎo)體產(chǎn)品可分為集成電路、分離式組件、光電半導(dǎo)體等三種。    集成電路(IC),是將一電路設(shè)計(jì),包括線路及電子組件,做在一片硅芯片上,使其具有處理信息的功能...
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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一、雙極型IC的基本制造工藝:      A、在元器件間要做電隔離區(qū)(PN結(jié)隔離、全介質(zhì)隔離及PN結(jié)介質(zhì)混合隔離)          ECL(不摻金) (非飽和型) 、TTL/DTL (飽和型) 、STTL (飽和型)       B、在元器件間自然隔離          I2L(飽和型)二、MOSIC的基本制造工藝:      根據(jù)柵工藝分類:                A  鋁柵工藝                B  硅柵工藝      ...
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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外延生長(zhǎng)的基本原理是:在一塊加熱至適當(dāng)溫度的襯底基片(主要有藍(lán)寶石和、SiC、Si)上,氣態(tài)物質(zhì)InGaAlP有控制的輸送到襯底表面,生長(zhǎng)出特定單晶薄膜。目前LED外延片生長(zhǎng)技術(shù)主要采用有機(jī)金屬化學(xué)氣相沉積方法。 MOCVD介紹:       金屬有機(jī)物化學(xué)氣相淀積(Metal-Organic Chemical Vapor Deposition,簡(jiǎn)稱 MOCVD), 1968年由美國洛克威爾公司提出來的一項(xiàng)制備化合物半導(dǎo)體單品薄膜的新技術(shù)。該設(shè)備集精密機(jī)械、半導(dǎo)體材料、真空電子、流體力學(xué)、光學(xué)、化學(xué)、計(jì)算機(jī)多學(xué)科為一體,是一種自動(dòng)化程度高、價(jià)格昂貴、技術(shù)集成度高的尖端光電子專用設(shè)備,主要用于GaN(氮化鎵)系半導(dǎo)體材料的外延生長(zhǎng)和藍(lán)色、綠色或紫外發(fā)光二極管芯片的制造,也是光電子行業(yè)最有發(fā)展前途的專用設(shè)備之一。 LED芯片的制造工藝流程:       外延片→清洗→鍍透明電極層→透明電極圖形光刻→腐蝕→去膠→平臺(tái)圖形光刻→干法刻蝕→去膠→退火→SiO2沉積→窗口圖形光刻→SiO2腐蝕→去膠→N極圖形光刻→預(yù)清洗→鍍膜→剝離→退火→P極圖形光刻→鍍膜→剝離→研磨→切割→芯片→成品測(cè)試。     &#...
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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腐蝕液被腐蝕物H3PO4(85%):HNO3(65%):CH3COOH(100%):H2O:NH4F(40%)=76:3:15:5:0.01AlNH4(40%):HF(40%)=7:1SiO2,PSGH3PO4(85%)Si3N4HF(49%):HNO3(65%):CH3COOH(100%)=2:15:5SiKOH(3%~50%)各向異向SiNH4OH:H2O2(30%):H2O=1:1:5HF(49%):H2O=1:100Ti ,CoHF(49%):NH4F(40%)=1:10TiSi2
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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在半導(dǎo)體封裝技術(shù)國際學(xué)會(huì)“2015 Electronic Components and Technology Conference(ECTC)”上,IBM蘇黎世研究所發(fā)表了用銅納米粒子使銅柱的倒裝芯片接合實(shí)現(xiàn)了低溫化目標(biāo)的成果。       雖尚在初步評(píng)測(cè)階段,但擁有可在150℃的低溫下接合的潛在可能,有能緩和組裝時(shí)芯片與封裝間應(yīng)力的優(yōu)點(diǎn)。并且,由于使用銅納米粒子來接合銅柱,因此接合部最終會(huì)僅由銅構(gòu)成的塊。另外,對(duì)電流導(dǎo)致金屬離子移動(dòng)的電遷移還有良好耐受力,稱能夠?qū)崿F(xiàn)可通過大電流的接合。       在實(shí)際評(píng)測(cè)的鍵合條件下,向接合部供給銅納米粒子后,以250℃烘烤,將銅納米粒子燒結(jié)成體塊。此前人們知道的接合銅表面的方法是熱壓鍵合,但其量產(chǎn)的門檻較高。存在如對(duì)接合部的平坦性的要求精度較高、要求接合面清潔以及要在400℃高溫下高壓接合等課題。此次的技術(shù)若能實(shí)用化,便可輕松實(shí)現(xiàn)僅由銅構(gòu)成的體塊接合,具有很大的優(yōu)點(diǎn)。公開接合方法和接合后的強(qiáng)度評(píng)測(cè)結(jié)果       此次發(fā)布的成果,尚未進(jìn)入電遷移評(píng)測(cè)階段,只報(bào)告了接合方法和接合后的強(qiáng)度評(píng)測(cè)結(jié)果。該研究所表示,嘗試了兩種向銅柱與焊盤間供給銅納米粒子的方法。  ...
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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(1)外延工藝技術(shù)       外延工藝是根據(jù)不同硅源(SIH2CL2、SIHCL3、SICL4),在1100-1180℃溫度下在硅片表面再長(zhǎng)一層/多層本征(不摻雜)、N型(摻PH3)或P型(摻B2H6)的單晶硅,并把硅層的厚度和電阻率,厚度和電阻率的均勻性、表面的缺陷控制在允許范圍內(nèi)。功率半導(dǎo)體器件的外延生產(chǎn)工藝技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)一般要求達(dá)到厚度40-80±5um, 厚度和電阻率均勻性控制在5%以內(nèi)。(2)光刻工藝技術(shù)       光刻工藝是半導(dǎo)體工藝技術(shù)中最關(guān)鍵的技術(shù)之一,也是反映半導(dǎo)體工藝技術(shù)水平的重要指標(biāo)。光刻工藝是將掩膜(光刻板)圖形轉(zhuǎn)移到襯底表面的光刻膠上形成產(chǎn)品所需要圖形的工藝技術(shù),光刻機(jī)的精度一般是指光刻時(shí)所得到的光刻圖形的最小尺寸。分辨率越高,就能得到越細(xì)的線條,集成度也越高。對(duì)于高端Trench工藝技術(shù)的功率半導(dǎo)體器件,光刻生產(chǎn)工藝采用8英寸硅片,0.5um技術(shù)。 (3)刻蝕工藝技術(shù)       刻蝕是用物理或化學(xué)的方法有選擇地從硅片表面去除不需要的材料的過程,刻蝕的基本作用是準(zhǔn)確地復(fù)制掩膜圖形,以保證生產(chǎn)線中各種工藝正常進(jìn)行。濕法刻蝕是通過合適...
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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Acceptor - An element,such as boron,indium,and gallium used to create a free hole in a semiconductor.The acceptor atoms are required to have one less valence electron than the semiconductor. 受主——一種用來在半導(dǎo)體中形成空穴的元素,比如硼、銦和鎵。受主原子必須比半導(dǎo)體元素少一價(jià)電子。  Alignment Precision - Displacement of patterns that occurs during the photolithography process. 套準(zhǔn)精度——在光刻工藝中轉(zhuǎn)移圖形的精度。  Anisotropic - A process of etching that has very little or no undercutting 各向異性——在蝕刻過程中,只做少量或不做側(cè)向凹刻。 Area Contamination - Any foreign particles or material that are found on the surface of a wafer. This is viewed as d...
發(fā)布時(shí)間: 2016 - 03 - 23
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