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發(fā)布時間: 2016 - 03 - 14
2設備構成及詳細技術說明2.1工藝說明 2.2.臺面結構圖如下      3.設備說明3.1 排風系統(tǒng)?●排風裝置(排風壓力、風量根據(jù)實際情況或客戶要求設計)將設備內揮發(fā)的有毒氣體抽到車間排風管道或戶外(室外排放遵守國家環(huán)保要求),避免擴散到室內;?●排風通道內設有風量導流板,從而使排風效果達到最佳;?●本體頂部后方自帶強力抽風1個風道口裝置(每個藥劑槽對應一個),排風口直徑大于或等于 200mm 與本體焊成一體;?●排風口處設有手動調節(jié)風門,操作人員可根據(jù)情況及時調節(jié)排風量;3.2設備防護門:?●本體前方安裝有防護隔離門,隔離門采用透明PVC板制成,前門可以輕松開合,在清洗過程中,隔離門關閉,以盡量改善工作環(huán)境并減小對人體的傷害. ?●形式:上下推拉門。3.3 給排水/廢液系統(tǒng)?●給水管路為一路去離子水;?●給排水排廢接頭均為活性連接;?●排放方式均采用氣動控制的方式來保證安全3.4 電氣控制系統(tǒng)?●采用優(yōu)質PLC可編程控制器控制全操作過程, ?●人機界面為觸摸屏,接口中有手動操作、故障報警、安全保護等功能,各工作位過程完成提前提示報警,觸摸屏選用優(yōu)質產品;?●觸摸屏加鎖定,以防非授權人員修改或設定參數(shù);?●所有電控部分需獨立封閉,帶抽風系統(tǒng),獨立的配電柜?●設備照明:設備其它部位--低電壓燈,根據(jù)工作需要可控照明;?●設備整體采取人性化設計,方便操作;并裝有漏電保護和聲光報警提示裝置,保證性能安全可靠;電控部分導線采用耐高溫、耐腐蝕的專用導線,電氣控制部分內部還通有壓縮空氣保護,可防水耐腐蝕;?●設備所有處于腐蝕腔中的線纜均通過PE管進行保護,免受腐蝕;?●設備具有良好的接地裝置;
發(fā)布時間: 2016 - 03 - 14
設備概況:(僅做參考)主要功能:本設備主要手動搬運方式,通過對硅片腐蝕、漂洗、等方式進行處理,從而達到一個用戶要求的效果。設備名稱:KOH  Etch刻蝕清洗機           設備型號:CSE-SC-NZD254整機尺寸(參考):自動設備約2500mm(L)×1800mm(W)×2400mm(H);被清洗硅片尺寸: 2--6寸(25片/籃)設備形式:室內放置型;操作形式:手動各槽位主要技術工藝:設備組成:該設備主要由清洗部分、抽風系統(tǒng)及電控部分組成設備走向:方案圖按 “左進右出”方式,另可按要求設計“右進左出”方式;設備描述:此裝置是一個全自動的處理設備。8.0英寸大型觸摸屏(PROFACE/OMRON)顯示 / 檢測 / 操作每個槽前上方對應操作按鈕,與觸摸屏互相配合主體材料:德國進口10mmPP板,優(yōu)質不銹鋼骨架,外包3mmPP板防腐;臺面板為德國10mm PP板;DIW管路及構件采用日本進口clean-PVC管材,需滿足18M去離子水水質要求,酸堿管路材質為進口PFA/PVDF;采用國際標準生產加工,焊接組裝均在萬級凈化間內完成;排風:位于機臺后上部工作照明:上方防酸照明三菱、歐姆龍 PLC控制。安全考慮:設有EMO(急停裝置), 強電弱點隔離所有電磁閥均高于工作槽體工作液面電控箱正壓裝置(CDA Purge)設備三層防漏  樓盤傾斜   漏液報警  設備整體置于防漏托盤內排放管路加過濾裝置所有槽體折彎成型,可有效避免死角顆粒;更多化學品相關濕法腐蝕相關設備(KOH腐蝕刻蝕機、RCA清洗機、去膠機、外延片清洗機、酸堿腐蝕機、顯影機等)以及干燥設備(馬蘭戈尼干燥機Marangoni、單腔...
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要       本文報道了對SC1(nh4OH:H202:H20)溶液的研究,可用于抗顆粒去除和選擇性濕蝕刻某些薄膜。用于以下測試的SC1溶液的比例為1:2:10。研究了四氯硅氧化物、硼磷酸硅酸鹽玻璃、氮化物、摻雜多晶硅和熱氧化物等薄膜的刻蝕速率。薄膜成分、所使用化學品的年齡、溫度和化學成分是影響這些薄膜蝕刻率的因素。 介紹       抗蝕劑和顆粒去除的濕法工藝和化學方法在超大規(guī)模集成電路的制造中至關重要,依賴于克恩工作1、2的序列被廣泛使用。鹽酸:(H2O2 (SC2)±要用于去除金屬污染物,而食人魚(H2SO4:H2O2)和I NH4OH:H2O2:H2O (SCI)被認為主要是有機污染物清洗液??刮g劑涂層、離子注入或等離子體蝕刻和沖灰化步驟用于生成半導體處理過程中常見的粒子。使用SC1溶液以選擇性地蝕刻半導體行業(yè)常見的某些薄膜的可行性。加熱后的SC1已被發(fā)現(xiàn)在蝕刻膜中非常有效,如原位摻雜(ISD)多晶硅,而不破壞背面的硅表面。加熱后的SC1也能有效地蝕刻薄膜的細絲,由于各向異性,在干燥的蝕刻過程后可能保持不變。   實驗步驟        SC1溶液所有測試中...
發(fā)布時間: 2021 - 09 - 17
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要      對在SPEL中使用不同的浸沒方法清洗的硅晶片進行了比較研究。所生產的盈余已經通過各種方法進行了評估。使用這些清洗后獲得的結果被報告,并顯示與文獻中描述的結果一致。最佳清潔是RCA描述的。  介紹      在集成電路制造之前和制造過程中清洗硅片對于器件的性能至關重要。任何清潔過程的目的都是去除污染物并產生一個沒有微粒的表面。然而,裸露的硅具有很強的反應性,因此在大多數(shù)情況下,清潔后的表面會迅速氧化,并被一層薄氧化膜覆蓋。在本文中,“干凈”的硅晶片將是已經通過適當?shù)那逑闯绦虿⒈辉撨^程最后階段形成的薄氧化物覆蓋的晶片。實驗     實驗使用的晶片主要為2“CZO.lohmcmn型磷摻雜,然而,其他晶圓在適當?shù)那闆r下被用于比較目的。對收到的批次進行清理。除氫氟酸外,所使用的化學品均為由BDH提供的阿里星級。為了模擬中間裝置處理步驟后的清洗,某些晶片被清洗,然后使用常規(guī)爐在1150C的干燥氧中氧化,產生氧化物1OOOA厚,然后進行第二次清洗和表面分析。 結果      從制造商收到的晶片被薄氧化物覆蓋,拋光后生長。如果不采用光譜橢圓測量法,該薄膜的厚度很難絕對測量。本研究中測量的厚度結果一致...
發(fā)布時間: 2021 - 09 - 17
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要      在這項工作中,臭氧溶解在去離子水中(DIO3)清洗被研究作為一種低成本的替代方法,目前濕化學清洗在高效太陽能電池制造。與高壽命RCA的參考清洗工藝相比,通過簡單地向DIO3溶液中加入少量HF和HCl,獲得了更高的有效壽命和更低的J0。清洗和鈍化的晶片的有效壽命隨著在DIO3/HF/HCl清洗溶液中處理時間的增加而增加。即使在清洗后長達一小時的儲存時間后,晶片壽命的穩(wěn)定性使得DIO3/HF/HCl清洗適合工業(yè)應用。DIO3/HF/HCl清洗顯示出在大規(guī)模生產中作為高壽命濕化學清洗工藝的巨大潛力。 介紹      對于高效太陽能電池,如PERC、HIT和IBC電池,硅片表面的有效清潔對于獲得高壽命和良好的鈍化效果至關重要。太陽能電池生產線和光伏實驗室使用的常規(guī)濕化學清洗程序通常會消耗大量的化學物質,如H2SO4、硝酸、氟化氫、氯化氫、NH4OH和H2O2.這種化學溶液具有有限的槽壽命,這意味著即使不清洗晶片,在運行通過一定量的晶片或一段時間后,必須混合新的槽以保持有效的清洗。對于對硅表面條件更敏感、鈍化要求更高的高效硅太陽能電池,RCA清洗順序已成為參考。RCA清洗需要更頻繁地更換化學品,這大大增加了制造成本。      臭氧是一種強氧...
發(fā)布時間: 2021 - 09 - 16
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要      光伏制造濕法工藝步驟的評估表明雜質可能沉積在硅介質上。在取出晶片時,液體層保留在硅表面上。當液體蒸發(fā)時,液體中的任何污染物都會沉積在硅上。該數(shù)據(jù)表明,影響雜質沉積的最大因素是熔池中雜質的濃度。 濕法加工中的污染源       將硅片加工成光伏電池涉及多個步驟。該過程從生長硅錠開始,并通過各種包括晶片鋸切、清洗、蝕刻、擴散、絲網印刷和最后測試的步驟。在整個過程中,保持硅晶片的純度是至關重要的, 因為已經表明污染會對細胞的效率和有效壽命產生負而前濕法工藝是制造過程中的一個污染源。這些濕法工藝通常使用高純度化學物質,如氫氟酸和鹽酸,以及18兆歐厘采的去離子水。當化學物質開始時低雜質,化學品暴露于化學品分配系統(tǒng)中使用的材料,如管道閥門和容器,會將液體污染到不可接受的程度。可提取性測試表明,用于油濕部件的材料類型,如聚氯乙烯、聚丙烯或全氟烷氧基(PFA)對流體介質中存在的污染水平有顯著影響。 圖1  晶片浸沒和從處理槽中取出        金屬污染物對載流子的壽命有顯著影響。金屬污染物可以作為硅的蝕刻紋理化的副產品被引入到浴缸中,也可以通過工藝被引入。許多研究已經進行來測量金屬污染物對細胞性能的影響。其...
發(fā)布時間: 2021 - 09 - 16
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要      本文的方法通過使用動態(tài)液滴對硅晶片進行局部濕法處理來表示,該液滴在與晶片接觸時形成動態(tài)液體彎月面。這項工作引入的主要科學創(chuàng)新和相關性已經應用于工業(yè)太陽能電池生產和集成電路互連的硅晶片金屬凸塊形成(即。銅柱)。這種新技術允許在特定的限定位置接觸硅晶片,以便執(zhí)行任何種類的濕法處理(例如。蝕刻、清潔和/或電鍍)而不需要任何保護性抗蝕劑。利用計算流體動力學技術(即。精確預測流體流動的數(shù)值技術)之后,并提出。建立了實驗裝置來驗證計算結果。數(shù)值結果與實驗結果吻合良好。使用立體光刻系統(tǒng)的原型頭被開發(fā)出來,并且在硅上進行不需要光刻步驟的局部選擇性電鍍。 介紹      與半導體和光伏產業(yè)的任何其他部門一樣,主要驅動力是通過降低成本來提高業(yè)績。在光伏領域,這意味著每美元更便宜的瓦特和更高效率的硅太陽能電池(即。 19%). 在電子封裝行業(yè),這意味著使用面積陣列封裝尋求更好的電氣性能和更高的輸入/輸出數(shù)量,目標是“更小、更快、更便宜”。 實驗測試和計算流體動力學驗證       設計了兩種不同類型的原型來驗證計算流體動力學模型:一種具有矩形噴嘴幾何形狀,另一種具有圓形對稱陣列。同時,本文寫道,用于制造銅柱電鍍的具有4x4陣列的圓形對...
發(fā)布時間: 2021 - 09 - 16
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要      為了評估在300 mm直徑硅片的濕法清洗槽中產生氣泡運動的主導力,使用攝像機和光學顯微鏡研究了由兆頻超聲波產生的小氣泡的典型運動。在MS波作用下,直徑為10–30和200–300米的氣泡的上升速度分別為0.002–0.003和0.02–0.08米/秒。直徑為200-300米的氣泡的速度取決于三個力,即浮力、毫秒波和水流。直徑為10-30米的氣泡的運動主要由橫波驅動;浮力的影響很小??梢酝ㄟ^調節(jié)質譜波功率來改變緊靠晶片支撐桿上方的氣泡路徑。介紹      在制造半導體硅微電子器件的整個過程中,非常干凈的硅表面是必要的。在各種器件制造過程中存在的各種污染物通過使用超純水和各種化學試劑的濕法清洗過程被去除,通常伴隨著被稱為兆頻超聲波的高頻聲波譜波產生微泡,這些微泡已經被用于各種工業(yè)領域的許多清洗技術.然而,質譜波經常導致圖案塌陷和對硅表面上形成的非常小的結構的一些損壞。      在本文研究中,作為我們先前研究的延伸,使用了帶有質譜波模塊的無載體濕式清洗槽來觀察排列的晶片之間和晶片支撐桿附近的氣泡運動。根據(jù)氣泡直徑和向上速度之間的關系,并考慮到斯托克斯定律理論上給出的速度,評估了浮力、質譜波和水流的...
發(fā)布時間: 2021 - 09 - 16
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要本文討論了稀氫氟酸清洗過程中顆粒沉積在硅片表面的機理。使用原子力顯微鏡的直接表面力測量表明,硅表面上的顆粒再沉積是由于顆粒和晶片表面之間的主要相互作用。表面活性劑的加入可以通過改變顆粒和晶片之間的表面相互作用力來影響稀氟化氫溶液的清潔效果。我們表明,顆粒沉積與晶片和顆粒的ζ電勢的乘積之間存在簡單的相關性。這種相關性可以通過在雙電層相互作用的推導中引入線性疊加近似來解釋。表面活性劑的加入也將降低分散吸引力,引入空間排斥,并消除粘附力,如表面力測量結果所示。 介紹隨著半導體工業(yè)向越來越小的尺寸發(fā)展,去除顆粒污染物變得極其重要。因此,硅片超凈是半導體加工的一個重要領域。最廣泛使用的清洗方法是基于RCA的濕化學清洗,可去除晶片表面的有機殘留物、顆粒和金屬離子。經RCA清洗的晶片表面有一層約1-2納米厚的化學氧化層。使用稀釋的HF清洗來去除該層,并獲得氫鈍化的裸露硅表面,該表面具有高的抗氧化穩(wěn)定性和低密度的表面狀態(tài)。然而,在HF清洗期間,浴中的顆粒傾向于再沉積到裸露的硅表面上。 實驗所有的實驗都在室溫下進行。每個實驗的0.5% HF溶液都是從電子級49% HF溶液新鮮制備的。在這些實驗中,氮化硅顆粒被選為模型顆粒。顆粒沉積實驗如下進行;硅片在浸入含200 ppm氮化硅顆粒的0.5 wt % HF溶液前,先在SC-1溶液中清洗~Alf...
發(fā)布時間: 2021 - 09 - 16
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要研究了兆聲波對300 mm直徑硅片濕法清洗槽中水和氣泡運動的影響。使用水溶性藍色墨水的示蹤劑觀察整個浴中的水運動。兆聲波加速了整個浴槽中的水運動,盡管沒有兆聲波時的水運動趨向于局部化。兆聲波產生的小氣泡的運動也被追蹤到整個晶片表面。兆聲波和水流增加了氣泡的傳輸速率。介紹       使用超純水、各種化學試劑和非常常見的兆聲波在濕法工藝之后清洗硅晶片表面.此外,兆聲波產生的微泡已經用于各種清洗技術。因此,許多研究人員)已經基于清潔的硅晶片表面的粒子水平評估研究了其有效使用的方法和條件。為了進一步改善濕式清洗槽中的濕式清洗條件,水和氣泡在兆聲波作用下的運動應該得到充分的澄清。盡管在著名的先前論文中已經通過數(shù)值計算研究了兆聲波下的水流,但是使用可視化技術的實驗研究應該進一步進行。 本文研究了在不同功率的超聲波作用下,水和氣泡在整個無載體濕法清洗槽中的運動。根據(jù)所得結果,討論了兆聲波的作用和影響。 實驗的  圖1顯示了本文中使用的無載體濕式清洗槽的示意圖。該系統(tǒng)由一個槽、25個晶片(直徑300毫米)、三個晶片支撐桿和兩個水噴嘴組成。浴缸和水噴嘴由石英玻璃制成。晶片支撐桿由碳氟樹脂制成。在這項研究中,為了使水的運動可視化,將水溶性藍色墨水加入水中。藍色墨水的運動是用錄像機每...
發(fā)布時間: 2021 - 09 - 13
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要      在總化學物質供給量不變的情況下,具有間歇化學物質供給和頻繁流量變化的濕式清潔浴對于改善清潔性能是相當有效的。使用間歇化學品供應表明節(jié)省了化學品消耗,這是環(huán)境友好的,并且具有高通量過程。當晶片以寬間距和窄間距同時放置在相同的濕清潔浴中時,與具有相等間距的晶片排列相比,在窄間距處顆粒去除效率顯著降低。為了防止?jié)穹ㄇ逑催^程降低清洗性能,必須仔細考慮晶片在濕法清洗槽中的放置。有趣的是,濕清潔浴中供給流速的模擬與不同晶片間距的實際顆粒去除率的實驗數(shù)據(jù)相關。我們認識到晶片間距和化學品供應方式是控制濕浴清潔效率的重要因素。 介紹       自濕式清潔工具首次用于基于熱堿性和酸性過氧化氫溶液的RCA標準清潔工藝以來,多年來已報告了許多挑戰(zhàn),以改善硅晶片表面金屬雜質、1–14顆粒、13–21和有機污染物去除23–26的濕式清潔工藝性能.26已報告使用表面活性劑的單步清潔可降低化學成本。報道稱,通過稀釋的HF-H2O2可以有效地去除銅.2–6稀釋的化學清洗被認為是實現(xiàn)低成本和高性能清洗的最合適的候選方法之一.2–6、13、14、19、22–25在這些清洗過程中,使用了兩種類型的濕工具。盡管工業(yè)上越來越多地采用能夠以高性能重復清洗每個晶片的單晶片旋轉型工具,但是...
發(fā)布時間: 2021 - 09 - 13
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掃碼添加微信,獲取更多半導體相關資料摘要      在濕化學加工中,制造需要表面清潔度和表面光滑度[1]。有必要完美地控制所有工藝參數(shù),特別是對于常見的清潔技術RCA clean (SC-1和SC-2) [2]。本文討論了表面處理參數(shù)的特點及其影響。硅技術中RCA濕化學處理的特性基于SC-1和QDR的處理時間、溫度、濃度和兆頻超聲波功率。提出了一種通過增加濕法清洗化學過程的變量來改進晶片表面制備的方法。 介紹      對SC-1和QDR的加工時間、溫度、濃度和兆頻超聲波功率的影響進行了廣泛的研究。這些研究表明,對顆粒去除效率影響最大的主要因素是兆頻超聲波功率,其次是溫度和濃度,SC-2的影響較小.在濕式臺式處理機中進行了一項統(tǒng)計設計實驗。本文將提出一種晶片表面制備RCA配方,該配方基于適合SC-1和QDR以及SC-1溫度的兆頻超聲波功率,具有最佳的粒子去除效率。實驗      通過在氫氟酸浴中和在帶有旋轉干燥干燥器的抗蝕工具類型中處理晶片,晶片被有意地預污染。HF會使晶圓表面變成疏水性,排斥水,容易吸引顆粒。典型的污染從100–2000個粒子不等,粒子閾值為0.13和0.16 Pm。由于前處理很大程度上取決于初始計數(shù)和晶圓的初始條件(污染前的清洗),晶圓是針對每個DOE條...
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