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濕法制程整體解決方案提供商

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發(fā)布時間: 2017 - 12 - 06
在LED外延及芯片制造領(lǐng)域,濕法設(shè)備占據(jù)約40%以上的工藝,隨著工藝技術(shù)的不斷發(fā)展,濕法設(shè)備已經(jīng)成為LED外延及芯片制造領(lǐng)域的關(guān)鍵設(shè)備,如SPM酸清洗、有機清洗、顯影、去膠、ITO蝕刻、BOE蝕刻、PSS高溫側(cè)腐、下蠟、勻膠、甩干、掩膜版清洗等。華林科納(江蘇)CSE深入研究LED生產(chǎn)工藝,現(xiàn)已形成可滿足LED產(chǎn)業(yè)化項目需求的全自動濕法工藝標(biāo)準(zhǔn)成套設(shè)備。 LED 芯片的制造工藝流程為:外延片→清洗→鍍透明電極層→透明電極圖形光刻→腐蝕→去膠→平臺圖形光刻→干法刻蝕→去膠→退火→SiO2 沉積→窗口圖形光刻→SiO2腐蝕→去膠→N極圖形光刻→預(yù)清洗→鍍膜→剝離→退火→P 極圖形光刻→鍍膜→剝離→研磨→切割→芯片→成品測試。 CSE-外延片清洗機設(shè)備 設(shè)備名稱華林科納(江蘇)CSE-外延片清洗機設(shè)備可處理晶圓尺寸2”-12”可處理晶圓材料硅、砷化鎵、磷化銦、氮化鎵、碳化硅、鈮酸鋰、鉭酸鋰等應(yīng)用領(lǐng)域集成電路、聲表面波(SAW)器件、微波毫米波器件、MEMS器件、先進封裝等專有技術(shù)系統(tǒng)潔凈性技術(shù)均勻性技術(shù)晶圓片N2干燥技術(shù)模塊化系統(tǒng)集成技術(shù)自動傳輸及精確控制技術(shù)溶液溫度、流量和壓力的精確控制技術(shù)主要技術(shù)特點系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊、安全腔體獨立密封,具有多種功能可實現(xiàn)晶圓干進干出采用工控機控制,功能強大,操作簡便可根據(jù)用戶要求提供個性化解決方案設(shè)備制造商華林科納(江蘇)半導(dǎo)體設(shè)備有限公司 regal-bio.cn 400-8768-096 ;18915583058更多的外延片清洗設(shè)備相關(guān)資訊可以關(guān)注華林科納CSE官網(wǎng)(regal-bio.cn),現(xiàn)在熱線咨詢400-8798-096可立即獲取免費的半導(dǎo)體行業(yè)相關(guān)清洗設(shè)備解決方案。
發(fā)布時間: 2017 - 12 - 06
旋轉(zhuǎn)式噴鍍臺結(jié)合微組裝工藝對鍍制工藝的小批量、多規(guī)格和特殊應(yīng)用要求等特點,在6" (150mm)晶圓電鍍系統(tǒng)中采用了傾斜式旋轉(zhuǎn)噴鍍技術(shù)傾斜式旋轉(zhuǎn)噴鍍單元分由兩個部分組成,一為陰極夾具、旋轉(zhuǎn)單元、導(dǎo)線電刷、N2 保護單元組成的陰極回轉(zhuǎn)體,二為三角形槽體、陽極和電力線擋板組成的陽極腔。傾斜旋轉(zhuǎn)噴鍍結(jié)構(gòu)示意圖如下:從鍍制結(jié)構(gòu)方式、鍍制工藝應(yīng)用分析可以看出,采用傾斜式旋轉(zhuǎn)噴鍍有以下幾種優(yōu)勢。一是這種結(jié)構(gòu)方式易實現(xiàn)槽體密封和附加N2 保護功能。二是在這種鍍制工藝中,陰極的旋轉(zhuǎn)運動使槽內(nèi)電場不均問題得以解決,從而提高了鍍制的均勻性。三是呈45°傾斜加陰極旋轉(zhuǎn)的方式,可以較容易的祛除晶圓表面的氣泡附著及“產(chǎn)生”氣泡的消除。四是采用了多微孔進行鍍液噴射,實現(xiàn)攪拌功能,消除局部PH值、溫度、離子濃度等不均勻帶來的影響。五是采用三角形鍍槽設(shè)計最大限度的減少了鍍液的消耗。六是該鍍制結(jié)構(gòu)方式可以滿足多品種、小批量、低成本的生產(chǎn)需求。傾斜旋轉(zhuǎn)噴鍍技術(shù)、工藝優(yōu)勢斜式三角鍍槽結(jié)構(gòu)本系統(tǒng)采用傾斜式三角形鍍槽結(jié)構(gòu),鍍槽入口溢流口均與三角形斜邊平行,可得到穩(wěn)定且不易積累氣泡的流場環(huán)境。通過進行相關(guān)模擬、仿真和驗證,鍍液入口采用扇形噴咀式結(jié)構(gòu),可保證鍍液在平行于陰極表面方向上形成均勻而穩(wěn)定的流場。從而通過改變流場的方法改善了鍍層的均勻性。該結(jié)構(gòu)的另一優(yōu)點可使電鍍液的用量減至最少程度。 華林科納(江蘇)CSE采用傾斜旋轉(zhuǎn)噴鍍方法進行晶圓電鍍工藝處理,由于結(jié)構(gòu)上的特點,該方法經(jīng)實驗驗證具有:①結(jié)構(gòu)簡單;②工藝參數(shù)控制容易;③有利氣泡的消除;④鍍制均勻性得到提高;⑤鍍制溶液用量少。該方法尤其適應(yīng)于小批量、多規(guī)格的電鍍工藝,同時可以取得較好的鍍制均勻性。圖6為我們所研制的150mm晶圓傾斜旋轉(zhuǎn)噴鍍系統(tǒng),目前已批量生產(chǎn)并在工藝線上得到較好的應(yīng)用,產(chǎn)品已通過技術(shù)定型鑒定和用戶驗收。實現(xiàn)的主要工藝指標(biāo):最...
發(fā)布時間: 2016 - 06 - 22
雙腔甩干機1. 應(yīng)用范圍:l 本機臺適用於半導(dǎo)體2”4”6”8”晶圓(含)以下之旋乾製程.l 設(shè)備為垂直式雙槽體機臺,可同Run 50片.l 可對旋乾步驟進行可程式化控制 (Recipe Program).l 具使用在此設(shè)備已超過20年以上的應(yīng)用馬達控制系統(tǒng)設(shè)計, 高穩(wěn)定度Rotor 設(shè)計, 震動值均控制於300 um 以下.l 高潔淨(jìng)設(shè)計,微塵控制於每次運轉(zhuǎn)增加量, 0.3um , 30顆以下.   2. 操作流程3. 圖示 4. 規(guī)格l 機臺內(nèi)皆使用鐵氟龍製DI , N2 控制閥件l 直流式馬達: DC無刷馬達750Wl 真空負壓軸封設(shè)計,隔離槽外污染l 不銹鋼N2過濾器 0.003~0.005μml 氣體加熱器及加熱墊控制乾燥速率l 壓力感測保護(加熱器空燒保護)l 槽外貼Silicon材質(zhì)加熱墊 x1 片, 220VAC , 300W(溫度開關(guān)90°C OFF 70°C ON)l  Viton材質(zhì)充氣式氣囊及槽後密封環(huán),保持室外絕緣l 不銹鋼槽體SS316經(jīng)拋光及電解研磨l 單顆螺絲固定轉(zhuǎn)子,並按客戶需求指定使用訂做l 轉(zhuǎn)子經(jīng)拋光及電解研磨,並做動態(tài)平衡校正l 可選擇指示燈訊及蜂鳴器音樂故障碼功能: 門鎖警告,氣體不足,傳動異常警告 5. 電控系統(tǒng)l  控制器操作介面: 7”記憶人機+ PLC可程式自動化控制器(人機 Touch Screen,整合介面) 。l 軟體功能Ø 編輯/儲存 : 製程/維修/警示/編輯/配方/,皆可從操作螢?zāi)簧闲薷摹?#216; 儲存能力記憶模組...
發(fā)布時間: 2016 - 03 - 07
枚葉式清洗機-華林科納CSE華林科納(江蘇)半導(dǎo)體CSE-單片枚葉式洗凈裝置的特長:單片式清洗裝置的優(yōu)點(與浸漬.槽式比較)1.晶片表面的微粒數(shù)非常少(到25nm可對應(yīng))例:附著粒子數(shù)…10個/W以下(0.08UM以上粒子)(參考)槽式200個/W2.藥液純水的消費量少藥液…(例)1%DHF的情況  20L/日純水...每處理一枚晶片0.5-1L/分3.小裝置size(根據(jù)每個客戶可以定制) 液體濺射(塵埃強制除去)  (推薦)清洗方法單片式裝置的Particle再附著問題   更多的半導(dǎo)體單片枚葉式濕法腐蝕清洗設(shè)備相關(guān)信息可以關(guān)注華林科納CSE官網(wǎng)(www.hlkncas.com),現(xiàn)在熱線咨詢400-8768-096;18913575037可立即獲取免費的半導(dǎo)體清洗解決方案。
發(fā)布時間: 2016 - 03 - 07
自動供酸系統(tǒng)(CDS)-華林科納(江蘇)CSEChemical Dispense System System 華林科納(江蘇)半導(dǎo)體CSE-CDS自動供酸系統(tǒng) 適用對象:HF、HN03、KOH、NH4OH、NaOH、H2SO4、HCL、 H2O2、IPA等主要用途:本設(shè)備主要用于濕法刻蝕清洗等制程工程工序需要的刻蝕液集中進行配送,經(jīng)管道至設(shè)備;具有自動化程度高,配比精確,操作簡便等特點;具有良好的耐腐蝕性能??刂颇J剑菏謩涌刂颇J?、自動控制模式設(shè)備名稱華林科納(江蘇)CSE-CDS自動供酸系統(tǒng)設(shè)備型號CSE-CDS-N1507設(shè)計基準(zhǔn)1.供液系統(tǒng)(Chemical Dispense System System)簡稱:CDS2. CDS 將設(shè)置于化學(xué)房內(nèi):酸堿溶液CDS 系統(tǒng)要求放置防腐性的化學(xué)房;3. 設(shè)備材質(zhì)說明(酸堿類):酸堿溶液CDS外構(gòu)采以WPP 10T 板材,內(nèi)部管路及組件采PFA 451 HP 材質(zhì);4. 系統(tǒng)為采以化學(xué)原液 雙桶/單桶20L、200L、1t等方式以Pump 方式運送到制程使用點;5. 過濾器:配有10” PFA材質(zhì)過濾器外殼;6. 供液泵:每種化學(xué)液體配有兩臺或者一臺 PTFE材質(zhì)的進口隔膜泵;7. Empty Sensor & Level Sensor:酸堿類采用一般型靜電容近接開關(guān);8. 所有化學(xué)品柜、歧管箱及閥箱均提供泄漏偵測器與警報功能。CDS系統(tǒng)設(shè)備規(guī)格 1. 系統(tǒng)主要功能概述設(shè)備主要功能:每種化學(xué)液體配兩個桶(自動切換)、配兩臺泵(一用一備)、帶過濾器;系統(tǒng)控制單元:配帶OMRON 8”彩色觸摸屏,OMRON品牌PLC系統(tǒng);2. 操作模式: CDS 系統(tǒng)皆有PLC 作Unit 內(nèi)部流程控制,操作介面以流程方式執(zhí)行,兼具自動化與親和力。在...
發(fā)布時間: 2018 - 01 - 23
單片清洗機-華林科納CSESingle wafer cleaner system華林科納(江蘇)CSE-自動單片式腐蝕清洗機應(yīng)用于清洗(包括光刻板清洗)刻蝕 去膠 金屬剝離等;可處理晶圓尺寸2'-12';可處理晶圓材料:硅 砷化鎵 磷化銦 氮化鎵 碳化硅 鈮酸鋰 鉭酸鋰等;主要應(yīng)用領(lǐng)域:集成電路   聲表面波器件  微波毫米波器件  MEMS  先進封裝等  設(shè) 備 名 稱CSE-單片清洗機類  型單片式適 用 領(lǐng) 域半導(dǎo)體、太陽能、液晶、MEMS等清 洗 方 式2英寸——12英寸設(shè)備穩(wěn)定性1、≥0.2um顆粒少于10顆2、金屬附著量:3E10 atoms/ cm²3、純水消耗量:1L/min/片4、蝕刻均一性良好(SiO?氧化膜被稀釋HF處理):≤2%5、干燥時間:≤20S6、藥液回收率:>95%單片式優(yōu)點1、單片處理時間短(相較于槽式清洗機)2、節(jié)約成本(藥液循環(huán)利用,消耗量遠低于槽式)3、良品率高4、有效避免邊緣再附著5、立體層疊式結(jié)構(gòu),占地面積小 更多的單片(枚葉)式清洗相關(guān)設(shè)備可以關(guān)注華林科納(江蘇)半導(dǎo)體官網(wǎng),關(guān)注http://regal-bio.cn ,400-8768-096,18913575037
發(fā)布時間: 2017 - 12 - 06
氫氟酸HF自動供液系統(tǒng)-華林科納(江蘇)CSEChemical Dispense System System 華林科納(江蘇)半導(dǎo)體CSE-氫氟酸供液系統(tǒng) 適用對象:HF、HN03、KOH、NH4OH、NaOH、H2SO4、HCL、 H2O2、IPA等主要用途:本設(shè)備主要用于濕法刻蝕清洗等制程工程工序需要的刻蝕液集中進行配送,經(jīng)管道至設(shè)備;具有自動化程度高,配比精確,操作簡便等特點;具有良好的耐腐蝕性能。控制模式:手動控制模式、自動控制模式 設(shè)備名稱華林科納(江蘇)CSE-氫氟酸(HF)供液系統(tǒng)設(shè)備型號CSE-CDS-N2601設(shè)計基準(zhǔn)1.供液系統(tǒng)(Chemical Dispense System System)簡稱:CDS2. CDS 將設(shè)置于化學(xué)房內(nèi):酸堿溶液CDS 系統(tǒng)要求放置防腐性的化學(xué)房;3. 設(shè)備材質(zhì)說明(酸堿類):酸堿溶液CDS外構(gòu)采以WPP 10T 板材,內(nèi)部管路及組件采PFA 451 HP 材質(zhì);4. 系統(tǒng)為采以化學(xué)原液 雙桶/單桶20L、200L、1t等方式以Pump 方式運送到制程使用點;5. 過濾器:配有10” PFA材質(zhì)過濾器外殼;6. 供液泵:每種化學(xué)液體配有兩臺或者一臺 PTFE材質(zhì)的進口隔膜泵;7. Empty Sensor & Level Sensor:酸堿類采用一般型靜電容近接開關(guān);8. 所有化學(xué)品柜、歧管箱及閥箱均提供泄漏偵測器與警報功能。CDS系統(tǒng)設(shè)備規(guī)格 1. 系統(tǒng)主要功能概述設(shè)備主要功能:每種化學(xué)液體配兩個桶(自動切換)、配兩臺泵(一用一備)、帶過濾器;系統(tǒng)控制單元:配帶OMRON 8”彩色觸摸屏,OMRON品牌PLC系統(tǒng);2. 操作模式: CDS 系統(tǒng)皆有PLC 作Unit 內(nèi)部流程控制,操作介面以流程方式執(zhí)行,兼具自動化...
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單片濕法刻蝕機供酸管路系統(tǒng)設(shè)計

時間: 2017-01-04
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半導(dǎo)體加工中的刻蝕技術(shù)包括濕法化學(xué)刻蝕 (Wet Chemical Etching),等離子刻蝕(Plasma Etching),反應(yīng)離子刻蝕(Reactive Ion Etching)和離子研 磨(Ion Milling)。

與其它刻蝕技術(shù)相比,濕法化學(xué)刻蝕工藝的主 要優(yōu)點是成本低,對硅片上器件幾乎無損害,高選 擇比。缺點是各向異性差,工藝控制性(對溫度敏 感)差,微顆??刂撇睿瘜W(xué)品處理費用高,由于氣 泡等因素很難使用于小的圖形。

半導(dǎo)體工業(yè)中的濕法刻蝕工藝,主要使用酸 液去除金屬、二氧化硅(SiO2)、硅等材料。相比等離子刻蝕,在刻蝕速率和經(jīng)濟性上要高于后者,但由 于酸液刻蝕在方向性上為各向同性,在高深寬比 溝槽的刻蝕控制上也不及后者,所以濕法刻蝕多 用于線寬尺寸較大,對刻蝕圖形精度要求不太高 的應(yīng)用。

在單片濕法刻蝕方法與傳統(tǒng)槽式處理方法相 比,避免了在同一槽內(nèi)批處理時硅片之間的互相污 染,潔凈度好,且單片處理速度更快,對刻蝕圖形的 精度控制也好于后者。

濕法刻蝕供酸管路系統(tǒng)的主體為主循環(huán)回 路,并有其它輔助的管路用于化學(xué)液補充或廢液子刻蝕,在刻蝕速率和經(jīng)濟性上要高于后者,但由 于酸液刻蝕在方向性上為各向同性,在高深寬比 溝槽的刻蝕控制上也不及后者,所以濕法刻蝕多 用于線寬尺寸較大,對刻蝕圖形精度要求不太高 的應(yīng)用。 在單片濕法刻蝕方法與傳統(tǒng)槽式處理方法相 比,避免了在同一槽內(nèi)批處理時硅片之間的互相污 染,潔凈度好,且單片處理速度更快,對刻蝕圖形的 精度控制也好于后者。 濕法刻蝕供酸管路系統(tǒng)的主體為主循環(huán)回 路,并有其它輔助的管路用于化學(xué)液補充或廢液

1 主循環(huán)回路各部件的布置

1.1 儲酸槽

作為整個供液回路的起點和終 點,起到儲存化學(xué)液的作用。槽的整體材料為 PFA 或 PTFE,以保證耐腐蝕性,依據(jù)液體的流動 性質(zhì),流出口設(shè)計在槽的底部與總閥及泵相連, 回流口和其它回收口、補液口都位于槽的頂蓋 上。槽內(nèi)裝有液位計,用于測量槽內(nèi)化學(xué)液存 量。液位計一般為 PTFE 或 PVDF 全包裹式,可 選多個固定液位測量式,預(yù)先設(shè)置 3~4 個位置分 別作為低液位報警或補液和高液位溢出報警使 用,也可選可全液位線性測量式,可在上位機監(jiān) 控軟件實時監(jiān)控儲酸槽內(nèi)液位情況。槽的一側(cè)上 部設(shè)置化學(xué)液溢出口,用于排出超量的化學(xué)液, 并有排氣功能。

在儲酸槽上要布置用于化學(xué)液補充的接口,在 液位傳感器感知到儲酸槽中化學(xué)液量不足時,啟動 補液泵,通過補液管路從外部化學(xué)液儲存系統(tǒng)中向 設(shè)備內(nèi)的儲酸槽補充化學(xué)液。 另外,在儲酸槽上要布置用于 DI 水沖洗槽的 供水接口。

同時,適當(dāng)?shù)目刂蒲a液和供 DI 水的量,也是 調(diào)整管路內(nèi)化學(xué)液濃度的直接方法。由于化學(xué)液 的濃度是濕法刻蝕工藝的重要工藝參數(shù),濃度不 是固定值,隨著硅片處理量的增加,濃度會不斷降 低,而濃度的降低會影響不同批次處理硅片的工 藝時間,所以,在處理一定批次硅片后,要適當(dāng)補 液來提高化學(xué)液的濃度,也可在必要時供 DI 水, 降低濃度。

1.2 加熱器與熱交換器的布置

??對于單片濕法刻蝕,一般選用在線加熱器(inline heater),采用發(fā)熱電阻絲, 外層包裹或涂覆 PTFE 層,化? 學(xué)液從進口流入加熱 器內(nèi),控制電路控制電阻絲對化學(xué)液加熱,加熱后 的化學(xué)液從出口流出。

熱交換器的作用是降低化學(xué)液的溫度,使其穩(wěn) 定在要求的工藝溫度范圍內(nèi),通常使用常溫水來冷 卻,可選用在線式或儲酸槽內(nèi)布置等方式。圖 3 為 在線式熱交換器示意圖,冷卻水為 18 ℃的去離子 水,冷卻水在交換器中循環(huán)流動,與高溫化學(xué)液產(chǎn) 生熱交換,從而使化學(xué)液溫度下降。

由于整個管路是一個閉環(huán)回路系統(tǒng),理論上可 以布置在回路上的任何位置,但考慮到對溫度控制 精度及穩(wěn)定性的要求,尤其是濕法刻蝕工藝對化學(xué) 液溫度的敏感性很高,為增加對化學(xué)液溫度控制的 穩(wěn)定性,加熱器和熱交換器應(yīng)該布置在溫度傳感器 之后(相對于化學(xué)液流向),且加熱和熱交換都有時 間要求,不適于布置在進入工藝腔之前,而應(yīng)在回 流儲酸槽的回路部分。

1.3 過濾器

用于控制化學(xué)液中的顆粒污染,由于濕法刻蝕 工藝對微顆粒污染的敏感性,所以應(yīng)當(dāng)使化學(xué)液通 過過濾器后立即進入工藝腔進行刻蝕處理。且選用 的過濾器為殼體與濾芯分離式為佳,因為過濾器的 濾芯使用一定時間后就需要更換,分離式過濾器更 換濾芯方便,不需要將過濾器整體更換,能更好地 降低成本。

1.4 壓力傳感器

測量回路內(nèi)化學(xué)液流體的壓力,由于進入工藝 腔前和回流部分的壓力有很大差別,且同時工作的 工藝腔越多,回流部分的壓力會越小,而泵處于前 段,為了更好地控制泵為工藝腔供應(yīng)化學(xué)液,應(yīng)當(dāng) 檢測回流部分壓力,獲得壓力下降的幅度以便調(diào)節(jié) 泵的供酸量。由于是在主循環(huán)回路上測量管路內(nèi)流 體的壓力,所以不適于采用終端式的壓力傳感器, 在線式的為佳。

1.5 溫度傳感器

測量主循環(huán)回路中流體的溫度,類似壓力傳感 器,在線式為佳,在線式溫度傳感器的優(yōu)點是可以 根據(jù)不同情況,任意調(diào)整在管路上測溫點的位置。 另外,也可采用 PTFE 包裹的探溫桿式傳感器,置 于儲酸槽內(nèi)進行溫度的測量,由于刻蝕工藝對化學(xué) 液溫度的控制要求,以及儲酸槽內(nèi)集中了整個循環(huán) 管路中大部分化學(xué)液,所以,直接測量這部分化學(xué) 液的溫度情況,有利于對化學(xué)液溫度的控制。

1.6 流量調(diào)節(jié)開關(guān)

與壓力傳感器同樣的原因,也應(yīng)當(dāng)布置于回流 部分。相比壓力傳感器只能向上位機監(jiān)控系統(tǒng)反饋 管路內(nèi)的流體壓力參數(shù)不同,流量調(diào)節(jié)開關(guān)或稱流 量控制器,不但可以監(jiān)控管路內(nèi)流體的流速,還可 進行主動調(diào)節(jié)。

2 濕法刻蝕主要工藝參數(shù)

濕法刻蝕主要工藝參數(shù)包括刻蝕率、刻蝕選擇 性和刻蝕幾何圖形。濕法刻蝕的刻蝕速率較快,常用的酸液刻蝕混合劑有 HF, H3PO4, H2SO4, KOH, H2O2, HCl,可被用于刻蝕多種材料,如 Si, SiO2, Si3N4, PR, Al, Au, Cu 等

影響刻蝕率即材料去除率的因素: (1) 酸液槽內(nèi)濃度是不斷變化的,主循環(huán)回路 在供應(yīng)工藝腔進行化學(xué)處理的同時,離開工藝腔的 酸液進入排液管路,回到供酸槽中,這樣隨著加工 硅片數(shù)量的增加,槽內(nèi)酸液的濃度會隨著化學(xué)液的 消耗而相應(yīng)的下降;

(2) 工藝腔內(nèi)刻蝕處理的時間,決定了刻蝕圖 形的形狀,以及是否會過刻蝕;

(3) 化學(xué)液散布的均勻性,在硅片不同區(qū)域,化學(xué)液停留的時間,直接決定了刻蝕的均勻性,所以 要保證整個硅片的刻蝕均勻性,就必須要盡量使化 學(xué)液散布的均勻,可使硅片承片臺高速旋轉(zhuǎn),在配 合以能使化學(xué)液均勻噴灑的化學(xué)液噴嘴結(jié)構(gòu);

(4) 化學(xué)液的溫度,通過在主循環(huán)回路上布置 在線式的加熱器和熱交換器,是最有效的控制化學(xué) 液溫度的方式;

(5) 被刻蝕材料本身的密度及孔隙率,影響化 學(xué)液與被刻蝕材料的接觸面積,也相應(yīng)地影響材料 的去除速率。

(6) 處理批次,由于化學(xué)液濃度在不斷變化,隨 著處理批次的增加,濃度不斷降低,所以,為不影響 后續(xù)處理過程中化學(xué)反應(yīng)的處理效果,應(yīng)適時補充 化學(xué)液。 其中,處理時間,化學(xué)液溫度,化學(xué)液散布均勻 性,處理批次都是較容易控制的,只有槽內(nèi)化學(xué)液 的濃度是最難控制的,隨著處理硅片數(shù)量的增加, 化學(xué)液不斷被消耗,槽內(nèi)濃度不斷下降,會對后續(xù) 處理的時間和刻蝕速率有很大影響。 濕法刻蝕都有很高的刻蝕選擇性,但對污染 很敏感。濕法刻蝕出的圖形基本都是各向同性的,

3 結(jié)語

單片濕法刻蝕機的化學(xué)液循環(huán)系統(tǒng)包括儲酸 槽、加熱器、熱交換器、過濾器、壓力和溫度傳感器 等一系列部件,通過合理的設(shè)計其放置順序可以獲 得穩(wěn)定的溫度與流量的化學(xué)液輸出。在對硅片進行 濕法刻蝕處理時,酸槽內(nèi)化學(xué)液濃度與溫度、處理 時間和被刻蝕材料本身的特性是影響刻蝕結(jié)果的 主要因素。


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