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引言
? ? ? 太陽能發(fā)電被期待為實(shí)現(xiàn)性最高的新能源之一。但是,太陽能發(fā)電存在效率低的問題。硅晶系太陽能電池(單晶、多晶)的表面平坦,反射入射光的約1/3(不進(jìn)行能量轉(zhuǎn)換),向周圍發(fā)散,產(chǎn)生了很大的損失(反射損失)。降低這種反射損失,使太陽光發(fā)電高效化的技術(shù)被稱為“光鎖定技術(shù)”。在硅太陽能電池中,已經(jīng)開發(fā)出了用蝕刻液處理表面,形成微觀凹凸(紋理),從而抑制反射的技術(shù)。
? ? ? 本研究討論了以下兩個(gè)課題,嘗試了對(duì)基板清洗原理的研究。課題(1)紋理的表面分析、觀察課題(2)清洗液的化學(xué)變化
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實(shí)驗(yàn)
? ? ? 作為溶液A,直接使用了Si(100)面的太陽能電池用的單晶晶圓。作為觀察試樣的未處理硅片用金剛石筆切斷為約5mm見方,用溶劑a清洗.作為觀察試樣的紋理完畢的硅片用金剛石筆切斷為約5mm見方。在表面分析中,使用了X射線光電子分光分析裝置(ESCA)和附帶掃描電子顯微鏡的X射線分析器。作為X射線光電子分光分析裝置,使用了未處理的硅片,比較了基板清洗前后。用SEM―EDS映射未處理的硅片和紋理,嘗試了“微掩?!钡奶剿?。
? ? ? 作為密閉容器,使用了玻璃制干燥器(容積3L)。在50mL螺旋管中加入50mL鹽酸,釋放蓋子,使其靜置在干燥器中。同樣,使50mL的溶劑A靜置在與鹽酸相同的干燥器中,使干燥器密閉,放置規(guī)定的時(shí)間(暴露時(shí)間)。根據(jù)峰的積分值進(jìn)行簡易定量。A2濃度=(A2峰面積)/(全峰面積的合計(jì))
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結(jié)果和總結(jié)
? ? ? 實(shí)驗(yàn)(1):圖1是進(jìn)行了紋理處理的良品的SEM圖像??梢钥吹饺驿仢M大小的“微金字塔”(紋理)的情況。由于是從正上方的視點(diǎn),所以很難理解,但是可以清楚地看到金字塔的頂點(diǎn)和棱線。與半導(dǎo)體用鏡面晶片不同,表面為微米級(jí),粗糙。表面粗糙度來源于切片工序。沒有發(fā)現(xiàn)形態(tài)上特別難以被蝕刻的點(diǎn)( 微掩模 ) 。
? ? ? 我們嘗試了基于表面分析的“微掩膜”的探索。但是,從結(jié)果來看,并沒有捕捉到“微掩膜”的樣子??梢韵胂?,“微掩膜”對(duì)于用SEM(逃逸深度:亞微米)進(jìn)行分析來說太薄了,對(duì)于用ESCA(逃逸深度:3nm)進(jìn)行分析來說(掩膜面積)太小了,所以這次使用的方法可能不合適。如果是具有微小的分析點(diǎn)和淺逃逸深度的俄歇電子分光分析的話,也許是可能的。
? ? ? 實(shí)驗(yàn)(2):圖5和圖6所示為溶劑A(暴露時(shí)間0h)和使用完畢的清洗液的GC―MS圖表(TIC)。兩者都在保持時(shí)間5.2分時(shí)確認(rèn)了A2的峰值。使用完畢的清洗液中,A2的峰值是新溶劑的數(shù)倍。根據(jù)積分值計(jì)算求得的各自的A2濃度為新溶劑:120 ppm,使用完畢的清洗液:930 ppm.從這個(gè)結(jié)果可以看出,在清洗液用于基板清洗期間,溶劑A向A2的反應(yīng)正在進(jìn)行。為了提供這個(gè)研究材料,進(jìn)行了酸性氣氛中的暴露試驗(yàn)。暴露試驗(yàn)的結(jié)果如圖7所示。這個(gè)結(jié)果顯示了隨著清洗液與酸性氣氛接觸的時(shí)間A2濃度變高的傾向。但是,即使增加,A2濃度也在0.1%以下(0.1%=1,000 ppm),所以A2對(duì)基板清洗的影響很小。
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圖7 ?a2濃度與暴露在飽和大氣中時(shí)間的關(guān)系
? ? ? 通過暴露試驗(yàn)確認(rèn)了隨著酸性氣氛中溶劑A的暴露時(shí)間A2濃度有變高的傾向。但是即使增加A2濃度也在0.1%以下(0.1%=1,000 ppm),因此A2對(duì)基板清洗的影響可以忽略不計(jì)。
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總結(jié)
? ? ? 我們嘗試了通過表面分析的“微掩膜”的探索,沒能捕捉到“微掩膜”的樣子。想象一下,“微掩膜”用SEM(逃逸深度:亞微米)分析太薄,用ESCA(逃逸深度:3nm)分析(掩膜面積)太小,所以這次使用的方法可能不合適。如果是具有微小的分析點(diǎn)和淺逃逸深度的俄歇電子分光分析的話,也許是可能的。
? ? ? 通過暴露試驗(yàn),確認(rèn)了隨著酸性氣氛中溶劑A的暴露時(shí)間A2濃度變高的傾向。但是,即使增加,A2濃度也在0.1%以下(0.1%=1,000 ppm),因此A2對(duì)基板清洗的影響可以忽略不計(jì)。今后,將對(duì)使用完畢的清洗液的GC―MS圖表中出現(xiàn)的峰值的識(shí)別進(jìn)行探討。