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摘要
? ? ??在總化學(xué)物質(zhì)供給量不變的情況下,具有間歇化學(xué)物質(zhì)供給和頻繁流量變化的濕式清潔浴對于改善清潔性能是相當(dāng)有效的。使用間歇化學(xué)品供應(yīng)表明節(jié)省了化學(xué)品消耗,這是環(huán)境友好的,并且具有高通量過程。當(dāng)晶片以寬間距和窄間距同時放置在相同的濕清潔浴中時,與具有相等間距的晶片排列相比,在窄間距處顆粒去除效率顯著降低。為了防止?jié)穹ㄇ逑催^程降低清洗性能,必須仔細(xì)考慮晶片在濕法清洗槽中的放置。有趣的是,濕清潔浴中供給流速的模擬與不同晶片間距的實際顆粒去除率的實驗數(shù)據(jù)相關(guān)。我們認(rèn)識到晶片間距和化學(xué)品供應(yīng)方式是控制濕浴清潔效率的重要因素。
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介紹
? ? ? ?自濕式清潔工具首次用于基于熱堿性和酸性過氧化氫溶液的RCA標(biāo)準(zhǔn)清潔工藝以來,多年來已報告了許多挑戰(zhàn),以改善硅晶片表面金屬雜質(zhì)、1–14顆粒、13–21和有機污染物去除23–26的濕式清潔工藝性能.26已報告使用表面活性劑的單步清潔可降低化學(xué)成本。報道稱,通過稀釋的HF-H2O2可以有效地去除銅.2–6稀釋的化學(xué)清洗被認(rèn)為是實現(xiàn)低成本和高性能清洗的最合適的候選方法之一.2–6、13、14、19、22–25在這些清洗過程中,使用了兩種類型的濕工具。盡管工業(yè)上越來越多地采用能夠以高性能重復(fù)清洗每個晶片的單晶片旋轉(zhuǎn)型工具,但是傳統(tǒng)的濕式清洗槽(批處理型)由于具有低化學(xué)消耗和高產(chǎn)量的優(yōu)點,仍然用于大批量半導(dǎo)體制造中。
實驗
? ? ? ?在該實驗中使用裸露的200毫米硅晶片來測試槽清洗效率。為了表征傳統(tǒng)濕式清潔浴的性能,我們采用了一種監(jiān)測技術(shù),該技術(shù)使用了由聚乙烯醇(PVA)制成的刷子在我們最近提出的快速周轉(zhuǎn)和低成本方法中擦洗產(chǎn)生的顆粒.33一種Dainipon Screen(DNS)FS-820 L批量濕式清潔工具用于這些表面制備。
?在這項研究中,化學(xué)流的離散方程是使用一個名為STREAM的計算流體動力學(xué)(CFD)軟件包求解的。STREAM使用結(jié)構(gòu)化網(wǎng)格流體分析,可以提高網(wǎng)格劃分和計算速度??紤]到槽的對稱幾何形狀,槽中晶片的右半部分用于計算傳輸方程。
結(jié)果和討論
? ? ? 將晶片放置在所有槽中,并在中心位置(A)測量晶片的顆粒?;瘜W(xué)品以25升/分鐘或10升/分鐘的連續(xù)流量供應(yīng)。結(jié)果向我們表明,當(dāng)設(shè)備按比例縮放時,應(yīng)選擇較高的流量來保持清潔性能,以避免高溫化學(xué)物質(zhì)對脆弱表面造成潛在的表面損傷。晶片間距可能會影響粒子的可去除性。晶片間距越寬,顆粒去除越有效。
圖1
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圖2
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結(jié)論
? ? ? 在總化學(xué)物質(zhì)供給量不變的情況下,流量變化頻繁的間歇化學(xué)物質(zhì)供給對顆粒去除相當(dāng)有效。在該實驗中測試的高化學(xué)流速證明了有效的清潔性能。間歇化學(xué)供應(yīng)方法建議節(jié)約化學(xué)消耗,這對環(huán)境是友好的,并且具有很高的效率。當(dāng)晶片以大間距和小間距放置在同一濕清潔浴中時,與具有相等間距的晶片排列相比,顆粒去除效率變化很大。有趣的是,在濕清潔浴中,對具有可變晶片間距的供應(yīng)流速的模擬與相同環(huán)境中實際顆??扇コ缘膶嶒灁?shù)據(jù)相關(guān)聯(lián)。
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