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摘要
? ? ? 綜述了半導(dǎo)體各向異性蝕刻的表面化學(xué)和電化學(xué)。描述了對(duì)堿性溶液中硅的各向異性化學(xué)蝕刻和 n 型半導(dǎo)體中各向異性孔的電化學(xué)蝕刻的最新見解。強(qiáng)調(diào)了電流效應(yīng)在開路蝕刻中的可能作用。
介紹
? ? ??由于簡(jiǎn)單、成本效益和多功能性,濕化學(xué)蝕刻方法在半導(dǎo)體器件技術(shù)中得到廣泛應(yīng)用。雖然一些半導(dǎo)體可以通過(guò)還原分解,但實(shí)際蝕刻通常涉及固體的氧化. 價(jià)電子從與溶液中的蝕刻物質(zhì)(開路蝕刻)或通過(guò)外部電路(電化學(xué)蝕刻)對(duì)電極的表面鍵合中去除。對(duì)于開路蝕刻,可以區(qū)分兩種機(jī)制。第一個(gè)是“電化學(xué)”:溶液中的氧化劑從固體的價(jià)帶中提取鍵合電子,即它“注入空穴”,當(dāng)它位于表面時(shí),會(huì)導(dǎo)致鍵斷裂。由于空穴是移動(dòng)的載體,氧化劑的還原和固體的氧化這兩個(gè)反應(yīng)可以看作是獨(dú)立的電化學(xué)反應(yīng);它們可以在空間上分開(下面將給出一個(gè)例子)。這種蝕刻形式通常稱為無(wú)電蝕刻。第二種機(jī)制是化學(xué)機(jī)制:溶液中的活性蝕刻劑與表面原子之間直接發(fā)生電子交換反應(yīng)。
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化學(xué)蝕刻:堿性溶液中的硅
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?圖 3. 電流-電位 (i-V) 曲線顯示兩個(gè)晶面 A 和 B 之間原電池的形成。蝕刻由氧化劑的擴(kuò)散控制。
陽(yáng)極蝕刻:各向異性孔隙
? ? ? HF溶液中Si的多孔陽(yáng)極蝕刻已為人所知并應(yīng)用多年 一個(gè)特別有趣的方面是蝕刻高度有序和強(qiáng)各向異性的介孔和大孔,其尺寸分別在 <50 nm 和 P50 nm 范圍內(nèi)。在 n 型硅中,這種孔可以通過(guò)光陽(yáng)極蝕刻生長(zhǎng),這是 Lehmann 等人完善的方法. 為了定義二維排序,通過(guò)例如光刻和各向異性化學(xué)蝕刻在硅表面的正面引入蝕刻坑圖案。
結(jié)論?
? ? ? 各種形式的各向異性蝕刻廣泛應(yīng)用于器件制造。這種過(guò)程的機(jī)制極其復(fù)雜,涉及多種物理和化學(xué)因素。雖然這些因素是已知的,但我們當(dāng)前的模型通常無(wú)法解釋實(shí)驗(yàn)觀察到的許多微妙之處。這適用于各向異性化學(xué)蝕刻和中孔/大孔蝕刻。
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