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污染控制有機(jī)物:
清潔有機(jī)污染物一直很重要以防止粘附問(wèn)題和表面問(wèn)題的掩蔽。然而,直到最近,量化有機(jī)污染才變得重要。(表 1 所示的水平是基于推測(cè),并非基于實(shí)際數(shù)據(jù)。)離子和金屬:去除這些雜質(zhì)顯然是至關(guān)重要的,因?yàn)樽鳛閷?dǎo)電材料,他們會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的電氣問(wèn)題 如果它們出現(xiàn)在錯(cuò)誤的地方,以錯(cuò)誤的濃度出現(xiàn)。對(duì)于每一代設(shè)備,可接受水平的行業(yè)要求(表 1)變得更加嚴(yán)格,提高了 10 倍。但是,有跡象表明要求可能不像這里顯示的那么嚴(yán)格。
表面控制
表面粗糙度:雖然只有 清潔工程師最近關(guān)注的一個(gè)問(wèn)題是,毫無(wú)疑問(wèn),在某些情況下,表面粗糙度可能是一個(gè)主要問(wèn)題。然而,關(guān)于地點(diǎn)和水平的明確解釋仍然存在。
需要注意的是,垂直粗糙度并不是唯一需要考慮的重要測(cè)量指標(biāo)。要求現(xiàn)在認(rèn)識(shí)到橫向尺寸的伴隨測(cè)量也很關(guān)鍵。
表面終止: 表面終止在各種關(guān)鍵清潔步驟(如外延、柵極和發(fā)射極)中的重要性已經(jīng)促使人們相信氫終止是大多數(shù)需要裸硅的工藝步驟之前的清潔的正確最終狀態(tài)。雖然在某些情況下終止氧化物的步驟是有用的,但這種要求將推動(dòng)更好地控制氧化物蝕刻和去除的需要。
氣相清潔的早期成功
業(yè)界第一個(gè)蒸汽清潔系統(tǒng)使用無(wú)水 HF 與水蒸汽結(jié)合在硅化鎢形成之前清潔多晶硅柵極。當(dāng)使用濕法清潔技術(shù)時(shí),這種硅化物工藝容易出現(xiàn)分層和粘附問(wèn)題。在這種情況下,蒸汽清潔因其技術(shù)優(yōu)勢(shì)而產(chǎn)生了影響。
自從 它在硅化鎢清洗、蒸汽清洗方面的成功 已在 RIE 聚合物去除方面取得積極成果 和某些其他特定于應(yīng)用程序的利基。但是,通常需要用水沖洗來(lái)處理浮渣、顆粒和金屬殘留物。這種對(duì)水的依賴(lài)需要將系統(tǒng)集成到 CVD 等真空工藝時(shí)的緩沖模塊。
單晶圓: 集成可能性將推動(dòng)轉(zhuǎn)向單晶片清潔。隨著晶圓尺寸增加到 12 和 16 英寸,它提供了額外的控制。盡管“總擁有成本”計(jì)算可能表明單晶片氣體處理具有成本競(jìng)爭(zhēng)力,但出于吞吐量方面的考慮,大多數(shù)工程師會(huì)在可能的情況下嘗試保留批處理。
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