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摘要
眾所周知,高劑量離子注入 (HDI) 光刻膠難以通過常規(guī)濕法剝離(例如硫酸-過氧化物混合物)去除,而不會(huì)因?yàn)槠涮蓟鈿佣鴮?dǎo)致基板損失。為了克服這個(gè)問題,提出了幾種方法,例如干蝕刻濕法,輔助物理清潔。在本文中,介紹了一種在同一腔室中使用干法和濕法相結(jié)合的剝離 HDI 光刻膠的新方法,以實(shí)現(xiàn)在不損失基板的情況下去除 HDI 光刻膠。一個(gè)新的過程包括兩個(gè)步驟。第一個(gè)過程通過大氣壓電感耦合氫等離子體去除碳化外殼層,第二個(gè)過程通過硫酸-臭氧混合物去除剩余的本體光刻膠。新工藝可以去除 HDI 光刻膠而不會(huì)造成任何基板損失。
傳統(tǒng)上,光刻膠已使用等離子灰化的組合剝離,低壓氧氣和浸漬濕法處理。然而, 由于等離子體灰化后的材料損壞,典型的灰化工藝已成為納米技術(shù)節(jié)點(diǎn)器件中的一個(gè)關(guān)鍵問題。因此,在光刻膠剝離中實(shí)施全濕法或其他無損傷工藝是必不可少的。
實(shí)驗(yàn)性
氣壓電感耦合等離子體 (AICP)。— 低壓等離子體已用于半導(dǎo)體行業(yè)。然而,這里描述的新工藝要求在大氣壓下產(chǎn)生干凈的等離子體,因?yàn)樗糜陂_放室單晶片、自旋清潔系統(tǒng)。因此,我們采用了 AICP 技術(shù)。該技術(shù)具有以下特點(diǎn)。
1.?等離子體非常干凈,因?yàn)殡姼旭詈系入x子體 (ICP) 沒有電極,這是金屬污染的來源。
2.?該設(shè)備的結(jié)構(gòu)非常簡單,因?yàn)椴恍枰忾]的腔室。
3.?可以產(chǎn)生高密度等離子體。
4.?可以產(chǎn)生含有各種氣體的等離子體
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圖 ?單晶片旋濕清洗系統(tǒng)的卡盤和腔室的橫截面示意圖
結(jié)果與討論??略? ?
文章全部詳情,請加華林科納V了解:壹叁叁伍捌零陸肆叁叁叁