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導(dǎo)言:
薄晶片已經(jīng)成為各種新型微電子產(chǎn)品的基本需求。其中包括用于射頻識(shí)別系統(tǒng)的功率器件、分立半導(dǎo)體、光電元件和集成電路。除了向堆疊管芯組件的轉(zhuǎn)移之外,垂直系統(tǒng)集成和微機(jī)電系統(tǒng)器件中的新概念要求晶片厚度減薄到小于150米。
機(jī)械研磨是最常見(jiàn)的晶圓減薄技術(shù),因?yàn)槠錅p薄速率高。商業(yè)上可獲得的研磨系統(tǒng)通常使用兩步工藝,首先以非常高的速率(5 m/sec)進(jìn)行粗研磨,然后以降低的速率進(jìn)行后續(xù)的細(xì)研磨工藝。
實(shí)驗(yàn)性:
實(shí)驗(yàn)是在SSEC 3300系統(tǒng)上進(jìn)行的。在蝕刻過(guò)程中,有許多工藝參數(shù)可以改變。為了這個(gè)研究的目的,使用了單一的蝕刻化學(xué)物質(zhì)。溫度、流速、分配曲線(xiàn)、旋轉(zhuǎn)速度和室排氣是可以通過(guò)工藝步驟編程的參數(shù)。我們希望關(guān)注對(duì)工藝影響最大的工具參數(shù),因此選擇了溫度、旋轉(zhuǎn)速度和流速。
所使用的化學(xué)物質(zhì)是氫氟酸、硝酸、硫酸和磷酸的混合物,并且作為旋蝕刻劑在市場(chǎng)上可以買(mǎi)到?;瘜W(xué)物質(zhì)的再循環(huán)使用SSEC的開(kāi)放式或封閉式收集環(huán)技術(shù)進(jìn)行。
圖1:蝕刻過(guò)程中的SSEC收集環(huán)和液流分配
采用JMP軟件進(jìn)行三因素三水平的Box-Behnken響應(yīng)面試驗(yàn)設(shè)計(jì)。
測(cè)量的響應(yīng)是蝕刻速率、TTV和表面粗糙度? ?略
結(jié)果????略
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