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摘要 ?
? ? ? 本文提供了一種通過濕工作臺法清洗硅片的方法,該方法可提高清洗效率,且不會產(chǎn)生氧化物。?在該方法中,晶圓可以首先在包括堿或酸的第一清洗液中清洗,然后在包括去離子水和臭氧的第二溶液中清洗。?去離子水中的臭氧濃度可在約1ppm至約20ppm之間,最好在約3ppm至約10ppm之間。?在臭氧/DI水漂洗步驟之后,在最后的漂洗步驟和干燥步驟之前,可以使用稀釋的HF清洗步驟來去除硅表面上可能形成的任何氧化物。
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圖1
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圖2
發(fā)明背景 ?
? ? ? 在半導(dǎo)體器件的制造中,硅片的加工需要大量的去離子水。?隨著晶圓尺寸的增大,去離子水的消耗增加。?例如,加工200毫米的晶圓消耗至少是加工150毫米晶圓消耗的兩倍。
? ? ? 去污水最常用于槽和洗滌器,用于過程中硅片的頻繁清洗和漂洗。?在對晶片進(jìn)行任何工藝(如氧化沉積、氮化沉積、SOG沉積或任何其他沉積或蝕刻工藝)后,最好使用去離子水清洗晶片表面。?去污水最常用于槽和洗滌器,用于過程中硅片的頻繁清洗和漂洗。?在對晶片進(jìn)行任何工藝(如氧化沉積、氮化沉積、SOG沉積或任何其他沉積或蝕刻工藝)后,最好使用去離子水清洗晶片表面。
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