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批次SPM清洗不符合當(dāng)前的清潔規(guī)范,以及單晶片清洗替代方案對(duì)環(huán)境造成嚴(yán)重破壞。?為了解決這個(gè)難題,ACM開發(fā)了Ultra-C作為植入后、cmp后和蝕刻后清潔的環(huán)保選擇。?收集的數(shù)據(jù)演示了Ultra-C Tahoe如何滿足28nm的要求,同時(shí)節(jié)省超過80%的SPM。?
摘要 ?
批處理SPM系統(tǒng)不滿足當(dāng)前28nm以下的清潔規(guī)范/要求。?單晶圓SPM系統(tǒng)在滿足清洗要求的同時(shí),使用大量的化學(xué)物質(zhì)進(jìn)行排水規(guī)格低于28 nm。?本文介紹了間歇式SPM系統(tǒng)的使用情況,并對(duì)SPM系統(tǒng)的性能進(jìn)行了分析單一晶圓在集成系統(tǒng),結(jié)果滿足技術(shù)規(guī)格和使用少于80%的SPM化學(xué)成分用于單晶圓系統(tǒng)。數(shù)據(jù)收集結(jié)果表明,該系統(tǒng)符合規(guī)范要求。
介紹 ?
采用干法和濕法相結(jié)合的方法,開發(fā)了傳統(tǒng)的有機(jī)光刻膠帶材工藝治療方法。?然而,以反應(yīng)性等離子體灰化為基礎(chǔ)的干燥處理已經(jīng)出現(xiàn)問題,如等離子體誘導(dǎo)的損傷,抗爆裂,不完全的抗移除,副產(chǎn)品再次沉積,后續(xù)需要濕條/清潔。?為了避免等離子問題,濕剝離基于酸性化學(xué)反應(yīng)的工藝,如硫酸和過氧化氫(SPM在80℃-150℃)在。目前的SPM純濕法工藝無法達(dá)到所需的清潔性能由于晶圓上的高顆粒和缺陷,使得SPM是單一的硅片加工是唯一的解決方案。?單片SPM工藝要求對(duì)混合物進(jìn)行加熱到高溫時(shí),只有一小部分熱SPM接觸晶圓片表面和大部分SPM剝離晶圓片。?這個(gè)化學(xué)反應(yīng)就這樣消失了。?這就產(chǎn)生了大量的硫酸的消耗和廢物的處理是昂貴的和對(duì)環(huán)境有害的。
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結(jié)論 ?
本文提出了一種新的SPM清洗工藝方法。?這種新的環(huán)保該技術(shù)將傳統(tǒng)的工作臺(tái)SPM清洗和單晶片清洗相結(jié)合設(shè)備,采用兩步法優(yōu)化濕工作臺(tái)和單晶圓片的優(yōu)勢(shì)清洗。 ??略
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