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始于90年代末

濕法制程整體解決方案提供商

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發(fā)布時間: 2017 - 12 - 06
在LED外延及芯片制造領域,濕法設備占據(jù)約40%以上的工藝,隨著工藝技術的不斷發(fā)展,濕法設備已經(jīng)成為LED外延及芯片制造領域的關鍵設備,如SPM酸清洗、有機清洗、顯影、去膠、ITO蝕刻、BOE蝕刻、PSS高溫側(cè)腐、下蠟、勻膠、甩干、掩膜版清洗等。華林科納(江蘇)CSE深入研究LED生產(chǎn)工藝,現(xiàn)已形成可滿足LED產(chǎn)業(yè)化項目需求的全自動濕法工藝標準成套設備。 LED 芯片的制造工藝流程為:外延片→清洗→鍍透明電極層→透明電極圖形光刻→腐蝕→去膠→平臺圖形光刻→干法刻蝕→去膠→退火→SiO2 沉積→窗口圖形光刻→SiO2腐蝕→去膠→N極圖形光刻→預清洗→鍍膜→剝離→退火→P 極圖形光刻→鍍膜→剝離→研磨→切割→芯片→成品測試。 CSE-外延片清洗機設備 設備名稱華林科納(江蘇)CSE-外延片清洗機設備可處理晶圓尺寸2”-12”可處理晶圓材料硅、砷化鎵、磷化銦、氮化鎵、碳化硅、鈮酸鋰、鉭酸鋰等應用領域集成電路、聲表面波(SAW)器件、微波毫米波器件、MEMS器件、先進封裝等專有技術系統(tǒng)潔凈性技術均勻性技術晶圓片N2干燥技術模塊化系統(tǒng)集成技術自動傳輸及精確控制技術溶液溫度、流量和壓力的精確控制技術主要技術特點系統(tǒng)結(jié)構緊湊、安全腔體獨立密封,具有多種功能可實現(xiàn)晶圓干進干出采用工控機控制,功能強大,操作簡便可根據(jù)用戶要求提供個性化解決方案設備制造商華林科納(江蘇)半導體設備有限公司 regal-bio.cn 400-8768-096 ;18915583058更多的外延片清洗設備相關資訊可以關注華林科納CSE官網(wǎng)(regal-bio.cn),現(xiàn)在熱線咨詢400-8798-096可立即獲取免費的半導體行業(yè)相關清洗設備解決方案。
發(fā)布時間: 2017 - 12 - 06
旋轉(zhuǎn)式噴鍍臺結(jié)合微組裝工藝對鍍制工藝的小批量、多規(guī)格和特殊應用要求等特點,在6" (150mm)晶圓電鍍系統(tǒng)中采用了傾斜式旋轉(zhuǎn)噴鍍技術傾斜式旋轉(zhuǎn)噴鍍單元分由兩個部分組成,一為陰極夾具、旋轉(zhuǎn)單元、導線電刷、N2 保護單元組成的陰極回轉(zhuǎn)體,二為三角形槽體、陽極和電力線擋板組成的陽極腔。傾斜旋轉(zhuǎn)噴鍍結(jié)構示意圖如下:從鍍制結(jié)構方式、鍍制工藝應用分析可以看出,采用傾斜式旋轉(zhuǎn)噴鍍有以下幾種優(yōu)勢。一是這種結(jié)構方式易實現(xiàn)槽體密封和附加N2 保護功能。二是在這種鍍制工藝中,陰極的旋轉(zhuǎn)運動使槽內(nèi)電場不均問題得以解決,從而提高了鍍制的均勻性。三是呈45°傾斜加陰極旋轉(zhuǎn)的方式,可以較容易的祛除晶圓表面的氣泡附著及“產(chǎn)生”氣泡的消除。四是采用了多微孔進行鍍液噴射,實現(xiàn)攪拌功能,消除局部PH值、溫度、離子濃度等不均勻帶來的影響。五是采用三角形鍍槽設計最大限度的減少了鍍液的消耗。六是該鍍制結(jié)構方式可以滿足多品種、小批量、低成本的生產(chǎn)需求。傾斜旋轉(zhuǎn)噴鍍技術、工藝優(yōu)勢斜式三角鍍槽結(jié)構本系統(tǒng)采用傾斜式三角形鍍槽結(jié)構,鍍槽入口溢流口均與三角形斜邊平行,可得到穩(wěn)定且不易積累氣泡的流場環(huán)境。通過進行相關模擬、仿真和驗證,鍍液入口采用扇形噴咀式結(jié)構,可保證鍍液在平行于陰極表面方向上形成均勻而穩(wěn)定的流場。從而通過改變流場的方法改善了鍍層的均勻性。該結(jié)構的另一優(yōu)點可使電鍍液的用量減至最少程度。 華林科納(江蘇)CSE采用傾斜旋轉(zhuǎn)噴鍍方法進行晶圓電鍍工藝處理,由于結(jié)構上的特點,該方法經(jīng)實驗驗證具有:①結(jié)構簡單;②工藝參數(shù)控制容易;③有利氣泡的消除;④鍍制均勻性得到提高;⑤鍍制溶液用量少。該方法尤其適應于小批量、多規(guī)格的電鍍工藝,同時可以取得較好的鍍制均勻性。圖6為我們所研制的150mm晶圓傾斜旋轉(zhuǎn)噴鍍系統(tǒng),目前已批量生產(chǎn)并在工藝線上得到較好的應用,產(chǎn)品已通過技術定型鑒定和用戶驗收。實現(xiàn)的主要工藝指標:最...
發(fā)布時間: 2016 - 06 - 22
雙腔甩干機1. 應用范圍:l 本機臺適用於半導體2”4”6”8”晶圓(含)以下之旋乾製程.l 設備為垂直式雙槽體機臺,可同Run 50片.l 可對旋乾步驟進行可程式化控制 (Recipe Program).l 具使用在此設備已超過20年以上的應用馬達控制系統(tǒng)設計, 高穩(wěn)定度Rotor 設計, 震動值均控制於300 um 以下.l 高潔淨設計,微塵控制於每次運轉(zhuǎn)增加量, 0.3um , 30顆以下.   2. 操作流程3. 圖示 4. 規(guī)格l 機臺內(nèi)皆使用鐵氟龍製DI , N2 控制閥件l 直流式馬達: DC無刷馬達750Wl 真空負壓軸封設計,隔離槽外污染l 不銹鋼N2過濾器 0.003~0.005μml 氣體加熱器及加熱墊控制乾燥速率l 壓力感測保護(加熱器空燒保護)l 槽外貼Silicon材質(zhì)加熱墊 x1 片, 220VAC , 300W(溫度開關90°C OFF 70°C ON)l  Viton材質(zhì)充氣式氣囊及槽後密封環(huán),保持室外絕緣l 不銹鋼槽體SS316經(jīng)拋光及電解研磨l 單顆螺絲固定轉(zhuǎn)子,並按客戶需求指定使用訂做l 轉(zhuǎn)子經(jīng)拋光及電解研磨,並做動態(tài)平衡校正l 可選擇指示燈訊及蜂鳴器音樂故障碼功能: 門鎖警告,氣體不足,傳動異常警告 5. 電控系統(tǒng)l  控制器操作介面: 7”記憶人機+ PLC可程式自動化控制器(人機 Touch Screen,整合介面) 。l 軟體功能Ø 編輯/儲存 : 製程/維修/警示/編輯/配方/,皆可從操作螢幕上修改。Ø 儲存能力記憶模組...
發(fā)布時間: 2016 - 03 - 07
枚葉式清洗機-華林科納CSE華林科納(江蘇)半導體CSE-單片枚葉式洗凈裝置的特長:單片式清洗裝置的優(yōu)點(與浸漬.槽式比較)1.晶片表面的微粒數(shù)非常少(到25nm可對應)例:附著粒子數(shù)…10個/W以下(0.08UM以上粒子)(參考)槽式200個/W2.藥液純水的消費量少藥液…(例)1%DHF的情況  20L/日純水...每處理一枚晶片0.5-1L/分3.小裝置size(根據(jù)每個客戶可以定制) 液體濺射(塵埃強制除去)  (推薦)清洗方法單片式裝置的Particle再附著問題   更多的半導體單片枚葉式濕法腐蝕清洗設備相關信息可以關注華林科納CSE官網(wǎng)(www.hlkncas.com),現(xiàn)在熱線咨詢400-8768-096;18913575037可立即獲取免費的半導體清洗解決方案。
發(fā)布時間: 2016 - 03 - 07
自動供酸系統(tǒng)(CDS)-華林科納(江蘇)CSEChemical Dispense System System 華林科納(江蘇)半導體CSE-CDS自動供酸系統(tǒng) 適用對象:HF、HN03、KOH、NH4OH、NaOH、H2SO4、HCL、 H2O2、IPA等主要用途:本設備主要用于濕法刻蝕清洗等制程工程工序需要的刻蝕液集中進行配送,經(jīng)管道至設備;具有自動化程度高,配比精確,操作簡便等特點;具有良好的耐腐蝕性能??刂颇J剑菏謩涌刂颇J健⒆詣涌刂颇J皆O備名稱華林科納(江蘇)CSE-CDS自動供酸系統(tǒng)設備型號CSE-CDS-N1507設計基準1.供液系統(tǒng)(Chemical Dispense System System)簡稱:CDS2. CDS 將設置于化學房內(nèi):酸堿溶液CDS 系統(tǒng)要求放置防腐性的化學房;3. 設備材質(zhì)說明(酸堿類):酸堿溶液CDS外構采以WPP 10T 板材,內(nèi)部管路及組件采PFA 451 HP 材質(zhì);4. 系統(tǒng)為采以化學原液 雙桶/單桶20L、200L、1t等方式以Pump 方式運送到制程使用點;5. 過濾器:配有10” PFA材質(zhì)過濾器外殼;6. 供液泵:每種化學液體配有兩臺或者一臺 PTFE材質(zhì)的進口隔膜泵;7. Empty Sensor & Level Sensor:酸堿類采用一般型靜電容近接開關;8. 所有化學品柜、歧管箱及閥箱均提供泄漏偵測器與警報功能。CDS系統(tǒng)設備規(guī)格 1. 系統(tǒng)主要功能概述設備主要功能:每種化學液體配兩個桶(自動切換)、配兩臺泵(一用一備)、帶過濾器;系統(tǒng)控制單元:配帶OMRON 8”彩色觸摸屏,OMRON品牌PLC系統(tǒng);2. 操作模式: CDS 系統(tǒng)皆有PLC 作Unit 內(nèi)部流程控制,操作介面以流程方式執(zhí)行,兼具自動化與親和力。在...
發(fā)布時間: 2018 - 01 - 23
單片清洗機-華林科納CSESingle wafer cleaner system華林科納(江蘇)CSE-自動單片式腐蝕清洗機應用于清洗(包括光刻板清洗)刻蝕 去膠 金屬剝離等;可處理晶圓尺寸2'-12';可處理晶圓材料:硅 砷化鎵 磷化銦 氮化鎵 碳化硅 鈮酸鋰 鉭酸鋰等;主要應用領域:集成電路   聲表面波器件  微波毫米波器件  MEMS  先進封裝等  設 備 名 稱CSE-單片清洗機類  型單片式適 用 領 域半導體、太陽能、液晶、MEMS等清 洗 方 式2英寸——12英寸設備穩(wěn)定性1、≥0.2um顆粒少于10顆2、金屬附著量:3E10 atoms/ cm²3、純水消耗量:1L/min/片4、蝕刻均一性良好(SiO?氧化膜被稀釋HF處理):≤2%5、干燥時間:≤20S6、藥液回收率:>95%單片式優(yōu)點1、單片處理時間短(相較于槽式清洗機)2、節(jié)約成本(藥液循環(huán)利用,消耗量遠低于槽式)3、良品率高4、有效避免邊緣再附著5、立體層疊式結(jié)構,占地面積小 更多的單片(枚葉)式清洗相關設備可以關注華林科納(江蘇)半導體官網(wǎng),關注http://regal-bio.cn ,400-8768-096,18913575037
發(fā)布時間: 2017 - 12 - 06
氫氟酸HF自動供液系統(tǒng)-華林科納(江蘇)CSEChemical Dispense System System 華林科納(江蘇)半導體CSE-氫氟酸供液系統(tǒng) 適用對象:HF、HN03、KOH、NH4OH、NaOH、H2SO4、HCL、 H2O2、IPA等主要用途:本設備主要用于濕法刻蝕清洗等制程工程工序需要的刻蝕液集中進行配送,經(jīng)管道至設備;具有自動化程度高,配比精確,操作簡便等特點;具有良好的耐腐蝕性能??刂颇J剑菏謩涌刂颇J?、自動控制模式 設備名稱華林科納(江蘇)CSE-氫氟酸(HF)供液系統(tǒng)設備型號CSE-CDS-N2601設計基準1.供液系統(tǒng)(Chemical Dispense System System)簡稱:CDS2. CDS 將設置于化學房內(nèi):酸堿溶液CDS 系統(tǒng)要求放置防腐性的化學房;3. 設備材質(zhì)說明(酸堿類):酸堿溶液CDS外構采以WPP 10T 板材,內(nèi)部管路及組件采PFA 451 HP 材質(zhì);4. 系統(tǒng)為采以化學原液 雙桶/單桶20L、200L、1t等方式以Pump 方式運送到制程使用點;5. 過濾器:配有10” PFA材質(zhì)過濾器外殼;6. 供液泵:每種化學液體配有兩臺或者一臺 PTFE材質(zhì)的進口隔膜泵;7. Empty Sensor & Level Sensor:酸堿類采用一般型靜電容近接開關;8. 所有化學品柜、歧管箱及閥箱均提供泄漏偵測器與警報功能。CDS系統(tǒng)設備規(guī)格 1. 系統(tǒng)主要功能概述設備主要功能:每種化學液體配兩個桶(自動切換)、配兩臺泵(一用一備)、帶過濾器;系統(tǒng)控制單元:配帶OMRON 8”彩色觸摸屏,OMRON品牌PLC系統(tǒng);2. 操作模式: CDS 系統(tǒng)皆有PLC 作Unit 內(nèi)部流程控制,操作介面以流程方式執(zhí)行,兼具自動化...
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化學氣相沉積裝置

時間: 2021-04-08
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化學氣相沉積裝置

有機金屬化學氣相沉積裝置達成上述目的,其特征在于包括:

腔室,提供對基板進行處理的處理空間;氣體供給部,向腔室的內(nèi)部供給處理氣體;以及基板支撐部,配置于腔室的內(nèi)部,具備安裝基板的收容槽,對基板進行加熱;且在收容槽的內(nèi)側(cè)形成有安裝基板的安裝部,在安裝部的邊緣與收容槽之間形成有中間槽。在基板安裝到安裝部的情況下,中間槽的寬度可被所述基板遮擋60%至95%。

中間槽可形成為內(nèi)部的邊角具有棱角的形態(tài)。在此情況下,中間槽的寬度可為1mm3mm

從安裝部的上表面測定的中間槽的深度可相對于從基板支撐部的上表面測定的中間槽的深度而為40%至80%。

進而,基板可沿圓形的圓周面而在至少一部分具備平面,收容槽具備從邊緣向內(nèi)側(cè)突出形成而防止基板旋轉(zhuǎn)的突出部。此時,基板的平面可與突出部接觸。在此情況下,基板的圓周面與平面接觸的角隅區(qū)域不與突出部接觸。突出部相對于安裝部的中心的圓周角度可相對小于基板的平面相對于安裝部的中心的圓周角度。進而,能夠以可裝卸的方式配置突出部?;逯尾靠砂ò惭b基板并加熱的加熱器區(qū)塊,從加熱器區(qū)塊的底部向上部形成插入槽,在插入槽的內(nèi)側(cè)具備測定加熱器區(qū)塊的溫度的熱電偶。從加熱器區(qū)塊的底部測定的插入槽的高度可相對于加熱器區(qū)塊的高度而為60%至90%。

發(fā)明效果

根據(jù)具有上述構成的,在基板支撐部的收容槽安裝基板的安裝部與收容槽的內(nèi)表面之間形成中間槽,由此引導如顆粒等的異物形成到中間槽,從而可防止在基板配置到收容槽時傾斜地配置的情況。

根據(jù),沿安裝基板的收容槽的內(nèi)側(cè)邊緣具備突出部而防止基板旋轉(zhuǎn),由此可防止基板卡入到收容槽的內(nèi)部或破損。

化學氣相沉積裝置?

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1是表示一實施例的有機金屬化學氣相沉積裝置的構造的剖面圖。

2是基板支撐部的俯視圖。

3是基板支撐部的局部剖面圖。

4至圖8是表示形成在基板支撐部的收容槽的突出部的各種實施例的俯視圖。

9是表示基板支撐部的內(nèi)部構造的剖面圖。

10是以往裝置的基板支撐部的剖面圖。

11是以往裝置的基板支撐部的俯視圖。

參照圖1,有機金屬化學氣相沉積裝置(1000)具備腔室(10)、基板支撐部(20)、氣體供給部(30)及反應空間形成單元(40)。

腔室(10)具備:腔室頂蓋(11),覆蓋腔室的上部;外部壁部(12),緊固到腔室頂蓋(11),覆蓋腔室的側(cè)部;以及底部凸緣部(13),形成腔室的下部底面。腔室頂蓋(11)可通過螺桿等緊固元件以可分離的方式緊固到外部壁部(12),可在腔室頂蓋(11)形成冷卻流路(11a)。冷卻流路(11a)以如下方式構成:供冷卻水或冷卻氣體等冷卻介質(zhì)流動,從而使因在腔室(10)內(nèi)的沉積制程中產(chǎn)生的高溫的熱而加熱的腔室(10)冷卻。

在腔室頂蓋(11)設置有作為光學傳感器(51)的光測定通路而發(fā)揮功能的傳感器管(52),光學傳感器用以光學測定在下文敘述的反應空間形成單元(40)內(nèi)沉積到基板上的薄膜。此處,以如下方式構成:對傳感器管(52)導入吹掃氣體而防止反應氣體從反應空間形成單元(40)排出到傳感器管(52)。外部壁部(12)以緊固到腔室頂蓋(11)且覆蓋腔室(10)的側(cè)部的方式構成。外部壁部(12)以如下方式構成:形成排氣孔(14),排氣孔(14)連接到排氣線,從而在沉積制程結(jié)束后,通過排氣孔(14)與排氣線將殘留在反應空間形成單元(40)的反應氣體排出到腔室(10)的外部。

在外部壁部(12)的內(nèi)部還可配置內(nèi)部壁部(12a)。內(nèi)部壁部(12a)以如下方式構成:以插入貫通的方式設置反應空間形成單元(40),從而可穩(wěn)定地設置反應空間形成單元(40)。

在腔室(10)的下部設置底部凸緣部(13)??稍诘撞客咕壊?/span>(13)形成冷卻流路(13a)。冷卻流路(13a)以如下方式構成:供冷卻水或冷卻氣體等冷卻介質(zhì)流動,從而使因在腔室(10)內(nèi)的沉積制程中產(chǎn)生的高溫的熱而加熱的腔室(10)冷卻。

在腔室的內(nèi)部配置安裝基板(W)的基板支撐部(20)?;逯尾?/span>(20)包括:加熱器區(qū)塊(21),安裝基板(W)并加熱;軸(22),支撐加熱器區(qū)塊(21)并使其旋轉(zhuǎn);密封部(23);以及感應加熱部(24),對加熱器區(qū)塊(21)進行加熱。

加熱器區(qū)塊(21)設置有多個收容槽(210、220、230)(參照圖2),以便可在上部面安裝多個基板(W)。軸(22)以如下方式構成:一末端連接到加熱器區(qū)塊(21),另一末端貫通腔室(10)的底部凸緣部(13)而連接到配置在腔室(10)的外部的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部來支撐加熱器區(qū)塊(21)并使其旋轉(zhuǎn)。軸(22)以如下方式構成:在內(nèi)部設置熱電偶(22a)而測定由感應加熱部(24)加熱的加熱器區(qū)塊(21)的溫度來進行控制。之后詳細地對熱電偶(22a)配置到加熱器區(qū)塊(21)的內(nèi)部的構成進行說明。

以在軸(22)與腔室(10)的底部凸緣部(13)之間設置密封部(23)來密封旋轉(zhuǎn)的軸(22)與底部凸緣部(13)之間的空間的方式構成。在密封部(23)填充流體密封件,,流體密封件可構成為通過磁性力而氣密地密封與外部的空隙的磁性流體密封件。

可在密封部(23)的上部設置隔熱部(26),隔熱部包圍軸(22),防止在沉積制程過程中產(chǎn)生的高溫的熱傳遞到腔室(10)及密封部(23)。

感應加熱部(24)以如下方式構成:例如,由包圍加熱器區(qū)塊

(21)的感應線圈形成,從而對配置在感應加熱部(24)的內(nèi)側(cè)的加熱器區(qū)塊(21)進行加熱??稍诟袘訜岵?/span>(24)與加熱器區(qū)塊(21)之間配置熱障壁(25)。熱障壁(25)不僅防止由感應加熱部(24)加熱的加熱器區(qū)塊(21)的高溫的熱傳遞到所述腔室(10)的內(nèi)部,而且也可保護感應加熱部(24)免受加熱器區(qū)塊(21)的高溫的熱的影響。,熱障壁(25)例如可由對高溫穩(wěn)定且熱反射率較高的陶瓷原材料形成。

在腔室的一側(cè)設置氣體供給部(30)。氣體供給部(30)具備分別連接到多個供氣線的多個氣體供給埠,從多個氣體供給源向多個供氣線供給處理氣體。有機金屬化學氣相沉積裝置(1000)具備設置到腔室(10)的內(nèi)部的反應空間形成單元(40)

反應空間形成單元(40)包括設置到與腔室頂蓋對應的一側(cè)的上部板(41)、側(cè)部板(、及設置到與基板支撐部對應的一側(cè)的下部板(43),向反應空間形成單元供給反應氣體的一側(cè)與連通到排氣孔的一側(cè)開口。

反應空間形成單元(40)以如下方式構成:一側(cè)貫通腔室(10)的內(nèi)部壁部而緊固到氣體供給部(30),另一側(cè)連通到形成在外部壁部(12)的排氣孔(14)。

可在反應空間形成單元的上部板(41)設置阻熱頂蓋(44)。阻熱頂蓋(44)設置到與加熱器區(qū)塊(21)對向的位置,厚于上部板,朝向加熱器區(qū)塊(21)的上部面突出,因此可更小地形成安裝在加熱器區(qū)塊(21)的基板(W)上的反應空間。

阻熱頂蓋(44)與上部板(41)緊固成一體,為了使更換容易,以可與上部板(41)分離的方式構成。阻熱頂蓋(44)例如可由對高溫穩(wěn)定且熱反射率較高的陶瓷材質(zhì)形成。

腔室(10)的內(nèi)部溫度達到1000℃以上的高溫,故而通過利用陶瓷原材料形成包覆加熱器區(qū)塊(21)的熱障壁(25)及阻熱頂蓋(44)而構成為對高溫穩(wěn)定。由此,通過熱反射率較高的阻熱頂蓋(44)可有效率地對基板進行加熱,同時可有效率地減少加熱基板所需的功耗。在基板上生長薄膜的過程中,在因沉積制程的化學反應而集中地產(chǎn)生副產(chǎn)物的位置設置阻熱頂蓋來延長零件的更換周期,由此可提高生產(chǎn)效率。

有機金屬化學氣相沉積裝置以如下方式構成:在基板支撐部的收容槽安裝基板的情況下,可防止因會形成到收容槽的顆粒等而傾斜地配置基板的情況。

2是加熱器區(qū)塊(21)的俯視圖,圖3是加熱器區(qū)塊(21)的局部剖面圖。圖3(A)表示收容槽(210),圖3(B)表示在收容槽(210)安裝有基板(W)的狀態(tài)。

參照圖2及圖3,有機金屬化學氣相沉積裝置(1000)在加熱器區(qū)塊(21)具備收容基板(W)的收容槽(210、220230)。收容槽(210、220、230)在圖中表示為3個,但并不限定于此,可適當?shù)卣{(diào)節(jié)。

可在收容槽(210220、230)的內(nèi)側(cè)形成安裝基板(W)的安裝部(212222、232),在安裝部(212、222、232)的邊緣與收容槽(210220、230)之間形成中間槽(213)。

在收容槽(210220、230)的內(nèi)側(cè),在以特定長度朝向上部突出形成的安裝部(212、222232)的上表面安裝基板(W),在此情況下,在基板(W)的邊緣區(qū)域的下部定位中間槽(213)。

此時,平坦地形成安裝部(212、222232)的上表面,因此在安裝部(212、

222232)的上表面安裝基板(W)的情況下,不會在基板(W)的下表面與安裝部

(212、222、232)的上表面之間產(chǎn)生空間。由于不會在基板(W)與安裝部(212、222、232)之間產(chǎn)生空間,因此可防止流入處理氣體而產(chǎn)生顆粒、粉末等異物的情況。

中間槽(213)可像圖中所示一樣形成為內(nèi)部的邊角具有棱角的形態(tài)。在此情況下,中間槽(213)的側(cè)剖面形成為具有棱角的四邊形等多邊形形態(tài),因此非常易于形成具有相對小于無棱角的單純?yōu)閳A形的形態(tài)的寬度的槽。與圓形形態(tài)相比,具有棱角的四邊形形態(tài)在中間槽(213)的內(nèi)側(cè)具有相對較廣的表面積,因此易于附著顆粒而可不使顆粒露出到中間槽(213)的外部。進而,也可期待中間槽(213)的具有棱角的邊角部分阻礙顆粒移動的效果。

其結(jié)果,如圖3(b)所示,即便處理氣體流入到基板(W)的下部,大部分顆粒等異物也形成到中間槽(213)的內(nèi)側(cè)。尤其,中間槽(213)的邊角形成為具有棱角的形態(tài),因此顆粒等無法沿具有棱角的邊角上升而移動,而是聚集到中間槽(213)的底面。因此,不會像以往一樣在安裝基板(W)的面形成顆粒等,因此在基板(W)安裝到收容槽(210、220、230)的內(nèi)部的情況下,可防止基板(W)傾斜。

在基板(W)安裝到安裝部(212、222、232)的上表面的情況下,以基板(W)的邊緣最大限度地與收容槽(210、220、230)鄰接的方式配置。即,以略微大于基板(W)的外徑的方式設定收容槽(210、220230)的內(nèi)部直徑。在此情況下,基板(W)的邊緣像圖中所示一樣遮擋中間槽(213)的寬度(D)的大部分。例如,基板(W)可遮擋中間槽(213)的寬度(D)50%以上,優(yōu)選為基板(W)可遮擋中間槽(213)的寬度(D)60%至95%左右。在中間槽(213)的寬度(D)的大部分被基板(W)遮擋的情況下,可減少流入到中間槽(213)的處理氣體的量,從而可抑制顆粒的產(chǎn)生。

根據(jù)實驗,中間槽(213)的寬度(D)、或安裝部(212、222232)的邊緣與收容槽(210、220230)的內(nèi)側(cè)面之間的距離(D)可為大致1mm3mm,且可為大致2mm。可由構成基板支撐部(20)的加熱器區(qū)塊(21)的上表面(21a)至中間槽(213)的底部的深度(B1)、及安裝部(212222、232)的上表面至中間槽(213)的底部的深度(B2)定義中間槽(213)的深度。在此情況下,安裝部(212、222、232)的上表面至中間槽(213)的底部的深度(B2)可相對于加熱器區(qū)塊(21)的上表面21a至中間槽(213)的底部的深度(B1)而為大致40%至80%。

可知在像上述內(nèi)容一樣設定中間槽(213)的深度的情況下,由中間槽(213)實現(xiàn)的顆粒引導效果最優(yōu)異。

有機金屬化學氣相沉積裝置以如下方式構成:在基板支撐部的收容槽安裝基板的情況下,可通過防止基板旋轉(zhuǎn)而防止基板卡入到收容槽或破損。以下,具體地進行說明。

4至圖8是表示形成在基板支撐部(20)的收容槽(310)的突出部的各種實施例的俯視圖。即,,為了防止基板(W)在收容槽(310)的內(nèi)側(cè)旋轉(zhuǎn),具備從收容槽(310)的邊緣向內(nèi)側(cè)突出形成而防止基板(W)旋轉(zhuǎn)的突出部。在此情況下,基板(W)可沿圓形的圓周面(Ws)而在至少一部分具備平面(Wf),在基板的圓周面(Ws)與平面(Wf)接觸的區(qū)域形成角隅區(qū)域(Wc)。在圖4至圖8中,(a)圖是收容槽(310)的俯視圖,(b)圖是(a)圖中的虛線區(qū)域的放大圖。

參照圖4,突出部(314)從收容槽(310)的邊緣向內(nèi)側(cè)突出形成。此時,所

述基板(W)可像上述內(nèi)容一樣沿圓周而在至少一部分形成平面(Wf),突出部(314)以與平面(Wf)接觸的方式配置。

即,在以往技術中,基板的角隅區(qū)域與收容槽的邊緣接觸而基板的角隅區(qū)域卡入到收容槽,在中,為了解決上述問題,以與基板(W)的平面(Wf)接觸的方式配置突出部(314)。因此,在中,基板(W)的角隅區(qū)域(Wc)不與突出部(314)接觸,從而可防止角隅區(qū)域(Wc)卡入到突出部(314)的情況。

為此,在基板(W)安裝到安裝部(312)的情況下,以相對小于基板(W)的平面(Wf)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ1)的方式形成突出部(314)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ2)。

如果突出部(314)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ2)相對大于基板(W)的平面(Wf)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ1),則無法防止基板(W)的角隅區(qū)域(Wc)與突出部(314)接觸。在此情況下,會像上述內(nèi)容一樣產(chǎn)生基板(W)的角隅區(qū)域(Wc)卡入到突出部(314)的現(xiàn)象。

因此,在中,為了防止基板(W)的角隅區(qū)域(Wc)卡入到突出部(314),以相對小于基板(W)的平面(Wf)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ1)的方式形成突出部(314)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ2)。

有機金屬化學氣相沉積裝置(1000)從基板(W)的側(cè)面供給處理氣體。如果從基板(W)的上側(cè)或下側(cè)供給處理氣體,則基板(W)不旋轉(zhuǎn),但如果像一樣從基板(W)的側(cè)面供給處理氣體,則基板(W)會旋轉(zhuǎn)。尤其,如果為了抑制處理氣體之間的寄生反應而提高處理氣體的氣體噴射速度,則基板(W)更容易旋轉(zhuǎn)。

因此,在有機金屬化學氣相沉積裝置(1000)中,即便從基板(W)的側(cè)面供給處理氣體,除基板(W)的角隅區(qū)域(Wc)以外的平面(Wf)的至少一部分與突出部(314)接觸而也最大限度地防止基板(W)旋轉(zhuǎn),進而,可防止基板(W)的角隅區(qū)域(Wc)卡入到突出部(314)?;?/span>(W)的圓周面(Ws)與平面(Wf)接觸的角隅區(qū)域(Wc)容易破損或損傷,但在中,以不使角隅區(qū)域(Wc)與突出部(314)接觸的方式配置突出部(314),因此可最大限度地防止基板(W)損傷或破損。中間槽(213)的寬度、或安裝部(312)的邊緣與收容槽(310)的內(nèi)側(cè)面之間的距離因突出部(314)而發(fā)生變化。

在無突出部(314)的區(qū)域,中間槽(213)的寬度(d2)可像上述內(nèi)容一樣形

成為大致1mm3mm,與此相反,在形成有突出部(314)的區(qū)域,中間槽(213)的寬度(d1)形成為相對小于寬度(d2)。在形成有突出部(314)的區(qū)域,中間槽(213)的寬度(d1)會相當于無突出部(314)的中間槽(213)的寬度(d2)的大致一半左右。在此情況下,在形成有突出部(314)的區(qū)域,固定地保持中間槽(213)的寬度(d1)。

4的實施例的構成可防止基板(W)旋轉(zhuǎn),但在基板(W)與突出部(314)

觸的情況下,突出部(314)的面與基板(W)的邊角接觸,從而防止卡入現(xiàn)象的效果降低。具有突出部(314)的耐久性相對較弱的特性。

5表示另一實施例的突出部(324)。

參照圖5,突出部(324)從收容槽(310)的邊緣向內(nèi)側(cè)突出形成。圖5的突

出部(324)的形狀與圖4的突出部的形狀相似,但其寬度及突出長度存在差異。

即,在無突出部(324)的區(qū)域,中間槽(213)的寬度(d2)

上述內(nèi)容一樣形成為大致1mm3mm,與此相反,在形成有突出部(324)的區(qū)域,中間槽(213)的寬度(d3)可相對小于寬度(d2)而為大致20%至40%左右。即,可謂本實施例的突出部(324)呈較圖4的突出部更突出的形態(tài)。能夠以相對小于圖4的突出部(314)的方式構成收容槽(310)的圓周方向上的突出部(324)的長度。

與圖4的構成相比,圖5的構成在基板(W)與突出部(324)接觸的情況下,

突出部(324)的面與基板(W)的面接觸而基板的卡入程度減小,尤其,突出部(324)的耐久性明顯地得到改善。然而,在形成有突出部(324)的區(qū)域,中間槽(213)的寬度(d3)相對變小,從而基板的裝載/卸載的便利性及固定地保持基板的溫度的溫度梯度特性具有與圖4相似的特性。

5的突出部(324)也在基板(W)安裝到安裝部(312)的情況下,以相對小于基板(W)的平面(Wf)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ1)的方式形成突出部(324)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ3)。之前已對此進行了詳述,因此省略重復的說明。

6表示又一實施例的突出部(334)。

參照圖6,本實施例的突出部(334)在從收容槽(310)的邊緣的內(nèi)側(cè)突出的情

況下呈平行地突出的形態(tài)。即,突出部(334)與安裝部(312)之間的距離不像圖中所示一樣固定,而是持續(xù)地發(fā)生變化。

與圖4及圖5相比,在圖6的實施例中,在形成有突出部(334)的區(qū)域,中間槽(213)的寬度相對變小,因此基板的裝載/卸載的便利性略微較低,但溫度梯度特性明顯地得到改善。在基板(W)與突出部(334)接觸的情況下,突出部334)的面與基板(W)的面接觸,從而表現(xiàn)出基板的卡入現(xiàn)象相對減少,突出部的耐久性也得到改善的特性。

6的突出部(334)也在基板(W)安裝到安裝部(312)的情況下,以相對小于基板(W)的平面(Wf)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ1)的方式形成突出部(334)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ4)。之前已對此進行了詳述,因此省略重復的說明。

7表示又一實施例的突出部(354、356)的構成。

參照圖7,沿收容槽(310)的邊緣的內(nèi)側(cè)具備一對本實施例的突出部(354356)。

沿收容槽(310)的邊緣的內(nèi)側(cè)而隔以特定距離具備一對突出部(354、356),突出部(354、356)大致突出形成為具有特定的半徑的半圓形狀、或曲線形狀、彎曲(curved)形狀等。

在此情況下,形成有突出部(354356)的區(qū)域相對小于上述實施例,故而基板的裝載/卸載特性相對變良好。在基板(W)與突出部(354、356)接觸的情況下,突出部(354、356)的面與基板(W)的面接觸而防止基板的卡入現(xiàn)象,但突出部的耐久性相對變差,基板的外周面與加熱器區(qū)塊(21)之間的距離變遠,因此基板的溫度梯度特性變差。

在像圖7一樣具備一對突出部(354、356)的情況下,在基板(W)安裝到安裝部(312)時,也以相對小于基板(W)的平面(Wf)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ1)的方式形成一對突出部(354356)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ5)。之前已對此進行了詳述,因此省略重復的說明。

8表示又一實施例的突出部(344、346)的構成。

參照圖8,與圖7的實施例相似地具備一對本實施例的突出部(344、346)。然而,本實施例的各突出部(344346)以如下方式構成:在從收容槽(310)的邊緣突出的情況下,形成突出部(344、346)的兩面的長度不同。

即,如圖所示,第一突出部(344)以第一面(344A)長于第二面(344B)的方式構成,相同地,第二突出部(346)以第三面(346A)長于第四面(346B)的方式構成。第一突出部(344)的第一面(344A)與第二突出部(346)的第三面(346A)可沿假想線配置。

在此情況下,形成有突出部(344、346)的區(qū)域相對小于上述實施例,故而基板的裝載/卸載特性相對變良好。在基板(W)與突出部(344、346)接觸的情況下,突出部(344、346)的面與基板(W)的面接觸,從而防止基板的卡入現(xiàn)象,耐久性也變良好。

在像圖8一樣具備一對突出部(344、346)的情況下,在基板(W)安裝到安裝部(312)時,也以相對小于基板(W)的平面(Wf)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ1)的方式形成一對突出部(344346)相對于安裝部(312)的中心(C)的圓周角度(θ6)。之前已對此進行了詳述,因此省略重復的說明。

4至圖8的突出部的構成也可一體地形成到收容槽,但能夠以可裝卸的方式具備突出部。在此情況下,突出部可包括與區(qū)塊加熱器不同的材質(zhì)。例如,突出部可由耐久性相對優(yōu)于加熱器區(qū)塊且耐熱的材質(zhì)制作。如上,在以可裝卸的方式構成突出部的情況下,在今后對基板支撐部進行維護等時,可更快且容易地進行維護。

如上,在基板支撐部(20)的加熱器區(qū)塊(21)的內(nèi)側(cè)具備測定加熱器區(qū)塊(21)的溫度的熱電偶(22a)。圖9是表示加熱器區(qū)塊(21)的內(nèi)部構成的剖面圖。

參照圖9,為了裝設熱電偶(22a),從加熱器區(qū)塊(21)的底部向上部形成

插入槽(29),在插入槽(29)的內(nèi)部具備熱電偶(22a)。在圖9中,軸’22’表示軸。

此時,熱電偶(22a)可對加熱器區(qū)塊(21)的溫度進行測定而推測由加熱器區(qū)塊(21)加熱的基板(W)的溫度。因此,在加熱器區(qū)塊(21)的內(nèi)部與基板(W)鄰接地配置熱電偶(22a)會較為有利。然而,如果為了實現(xiàn)這種配置而使從加熱器區(qū)塊(21)的底部測定的插入槽(29)的高度(h2)與加熱器區(qū)塊(21)的高度(h1)大致相似、或設為90%左右以上,則用以加熱基板(W)的熱能會通過插入槽(29)排出到腔室(10)的外部。這種情況會降低基板(W)的加熱效率而降低沉積到基板(W)的薄膜的品質(zhì)。在將從加熱器區(qū)塊(21)的底部測定的插入槽(29)的高度(h2)設為加熱器區(qū)塊(21)的高度(h1)60%以下的情況下,存在如下缺點:與安裝晶片的加熱器區(qū)塊上表面的溫度的差異較大,因此不適于用作制程反饋溫度。

因此,,將從加熱器區(qū)塊(21)的底部測定的插入槽(29)的高度(h2)設為加熱器區(qū)塊(21)的高度(h1)的大致60%至90%左右,優(yōu)選為設為75%左

右。

在這種構成中,插入槽(29)的高度(h2)相對于加熱器區(qū)塊(21)的高度(h1)而為大致90%以下,因此可抑制用以加熱基板(W)的熱能通過插入槽(29)

出的情況。如圖所示,以在插入槽(29)的內(nèi)側(cè)不與插入槽(29)的上表面接觸的方式具備熱電偶(22a)。因此,在加熱器區(qū)塊(21)旋轉(zhuǎn)的情況下,也可防止熱電偶(22a)受損。進而,熱電偶(22a)配置到插入槽(29)的內(nèi)側(cè)而測定加熱器區(qū)塊(21)的溫度,因此能夠以不根據(jù)基板(W)上部的環(huán)境改變的情況、例如處理氣體變化、壓力變化、溫度變化等環(huán)境變化而敏感地發(fā)生變化的狀態(tài)準確地測定加熱器區(qū)塊(21)的溫度。

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